PCB coating thickness analysis has been Bowman's specialty since the company's foundation as CMI in the 1980s.
Bowman guarantees that ALL of its XRF systems meet and exceed the gage capability requirements defined in IPC-4552 and IPC-4556. Bowman systems exclusively use silicon drift detector (SDD) technology for the best all-around performance.
SDD는 최상의 해상도를 제공하며, lowest noise level (highest S/N ratio), long-term stability, and shortest test times. They also measure %P directly in electroless nickel deposits. Combined with Bowman's highly reliable x-ray tube, this hardware duo represents a solid core in every XRF system we offer.
Whether you're measuring ENIG, ENEPIG, HASL, electroless nickel, %P, RoHS, or another PCB application, Bowman has the perfect solution for your requirements. With a full range of models and hardware options, our experts can help identify the best fit for your needs.
PCB 분석에 가장 많이 사용되는 두 가지 모델 P 및 B 시리즈 시스템입니다. P 시리즈에는 다양한 패드 크기, 프로그래밍 가능한 여러 XY 스테이지 크기 및 이동 범위를 수용하기 위한 다중 콜리메이터 어셈블리가 포함되어 있습니다. B 시리즈는 가장 저렴한 옵션이며 프로그래밍 가능한 스테이지 또는 여러 콜리메이터 크기 없이 P 시리즈와 동일한 측정 성능을 제공합니다.
피처 크기가 100 µm 이하에 접근하는 경우 Bowman offers poly-capillary optics systems which combine a very small x-ray beam size with high flux levels. As collimator sizes decrease, the amount of x-rays (flux) decreases in tandem. This directly affects repeatability and increases the required test times to achieve acceptable results. Poly-capillary optics offers the most effective solution for very small features, and Bowman offers beam sizes down to 7.5 µm FWHM, the smallest in the industry.

P 시리즈
Programmable XY stage (travel from 5”x6” to 16”x16”), multiple collimators (4, 8, 12, 24mil default, customized options available), slotted chamber to accommodate panels of all sizes. SDD detector standard; large-window SDD optional for fastest test times.

B 시리즈
수동 피처 위치 지정을 위한 고정 베이스, 단일 시준기(다중 시준기 어셈블리 옵션), 모든 크기의 패널을 수용할 수 있는 슬롯형 챔버. SDD 검출기 표준; 가장 빠른 테스트 시간을 위한 대형 창 SDD 옵션.
규정 준수 및 성능 데이터에 대해 자세히 알아보십시오. IPC 4552, XRF를 사용한 PCB 테스트에 대해 설명합니다.
Check out our short applications notes below to see how Bowman meets IPC-4552, IPC-4556 and measures %P under Au in ENIG: