IPC 4552- Rev. A/B Wymagania

IPC 4552-Rev A/B stawia wyzwania przed producentami PCB, którzy nakładają powłoki ENIG na swoje płytki. W szczególności nowa specyfikacja nakłada górny limit na ilość złota, która jest stosowana w celu uzyskania optymalnej wydajności produktu. Ta grubość złota musi być ściśle monitorowana, a przyjętą metodą pomiaru jest testowanie grubości XRF. Aby dokładnie zmierzyć grubość złota w tym nowo zdefiniowanym zakresie, wymagany jest określony sprzęt XRF, oprogramowanie i standardy kalibracji.

Większość producentów płytek PCB już posiada sprzęt XRF w ramach swojego procesu kontroli jakości, ale okazuje się, że wiele starszych instrumentów stara się spełnić nowe wymagania specyfikacji IPC i może wymagać uaktualnienia do najnowszej technologii XRF. Bowman jest jedyną firmą, która gwarantuje, że wszystkie ich systemy XRF spełniają nowe wymagania IPC 4552-Rev A/B.

W szczególności IPC wymaga przeprowadzenia badania sprawności przyrządu poprzez pomiar wzorców o znanej grubości >30 razy i przedstawienie wyników statystycznych. Jeśli XRF nie spełnia wymagań dotyczących dokładności i precyzji, należy zastosować opaski ochronne, aby jeszcze bardziej obniżyć zakres tolerancji grubości, co stanowi większe obciążenie dla operatorów procesu galwanizacji.

Wszystkie systemy Bowmana zostały sprawdzone i gwarantują, że spełniają i przekraczają wymagania dotyczące badania przyrządu, więc nie ma obaw o zmiany w procesie galwanizacji. Ten wysoki poziom wydajności jest możliwy dzięki wyłącznemu wykorzystaniu przez firmę Bowman technologii krzemowego detektora dryfu (SDD), najlepszej dostępnej dla instrumentów XRF. SDD zapewniają również bezpośredni pomiar %P w bezprądowych osadach niklu, co zapewnia bardziej aktualne informacje o kąpieli galwanicznej i zapewnia jeszcze większą spójność monitorowania grubości galwanicznej.

Bowman oferuje dwa rodzaje SDD. Standardowy SDD jest dostarczany z każdym systemem Bowmana i oferuje znacznie lepszą wydajność w porównaniu z detektorami liczników proporcjonalnych („licznik rekwizytów”) lub detektorami PIN. Oferujemy również opcję aktualizacji SDD do grafenu z dużym oknem, która poprawia ogólną wydajność, minimalizuje czas testu (tj. <10s z kolimatorem 24mil w celu spełnienia wymagań miernika) i zapewnia jeszcze większą czułość elementu „światło” dla elementów takich jak phos. Te ekskluzywne funkcje i nasza najlepsza w swojej klasie lokalna sieć wsparcia stanowią potężny przypadek wyboru Bowmana do następnego zakupu instrumentu XRF.


Wypełnij ten formularz, aby uzyskać dostęp do informacji o aplikacji Bowmana na temat IPC 4552-Rev A / B