XRF dla stali narzędziowych / narzędzi skrawających

Systemy analizy powłok Bowman XRF mierzą następujące zastosowania:

Narzędzia skrawające, takie jak wiertła, gwintowniki, płyty grzewcze i wiele innych, muszą spełniać określone wymagania materiałowe, aby były skuteczne. Muszą być twardsze od materiału przedmiotu obrabianego i pozostać takie w temperaturach roboczych, a także odporne na zginanie, zużycie i korozję. Choć materiały takie jak stale narzędziowe i stopy wolframu sprawdzają się w wielu przypadkach, nie są one doskonałe i nadal są podatne na warunki pracy. Aby przedłużyć żywotność narzędzi skrawających, platery mogą dodawać różne powłoki w celu zwiększenia ich odporności, przy czym niektóre z najpopularniejszych to powłoki PVD.

Powłoki metodą fizycznego osadzania fazy gazowej (PVD) – najczęściej stosowane w przypadku narzędzi skrawających z materiałów metalowo-ceramicznych, takich jak azotek tytanu (TiN), węgloazotek tytanu (TiCN), azotek chromu (CrN) i inne – mogą zwiększyć żywotność narzędzi od 3 do 10 razy . Powłoki te charakteryzują się doskonałą trwałością krawędzi i odpornością na korozję, a ich gładkość znacznie zmniejsza tarcie i zacieranie. Ponadto są dostępne w różnych kolorach, co odróżnia je estetycznie od ich niepowlekanych odpowiedników. Procesy PVD dla tych powłok polegają na odparowaniu i jonizacji źródła stałego metalu w komorze próżniowej, przy jednoczesnym wprowadzeniu reaktywnego gazu w celu utworzenia materiału powłoki, który skrapla się na powierzchni narzędzia. Powstała powłoka jest bardzo cienka – zwykle ma grubość od 0.0001' do 0.0005' (2.5-12.5 mikrona).

Fluorescencja rentgenowska (XRF) pozwala na szybką i niezawodną metodę do dokładnego pomiaru grubości powłok PVD, a także identyfikacji składu stopu narzędzia znajdującego się pod spodem. Dodatkowo XRF jest nieniszczący i charakteryzuje się znacznie krótszymi czasami cykli oraz minimalnym przygotowaniem próbki, co pozwala uzyskać wyniki w ciągu kilku sekund. Wszystkie systemy XRF firmy Bowman są wyposażone w detektory dryfu krzemu (SDD) o niższych granicach wykrywalności i wyższej rozdzielczości, co czyni je idealnym narzędziem do kontroli procesu i jakości.

Przeczytaj nasze uwagi aplikacyjne, aby dowiedzieć się więcej!

Seria L

Elastyczny system, idealny dla części powyżej 10" (254 mm) i do 24" (600 mm) w dowolnym wymiarze. Duża komora umożliwia włożenie wielu próbek do automatycznego pomiaru wielopunktowego.

Seria B

Wyjątkowa wydajność w precyzyjnym spektrometrze XRF klasy podstawowej! Idealny dla większych próbek, które wymagają tylko jednej lokalizacji testowej i kontroli wyrywkowych.

 

Potrzebuję pomocy?  POROZMAWIAJMY