A Série K foi desenvolvido para departamentos de qualidade que lidam com uma ampla gama de amostras. O sistema colimado tem uma área mensurável de 12″ (305 mm) x 12″ (305 mm) líder na classe em peças de até 8.75″ (222 mm) de altura. Um multicolimador automático permite tamanhos de pontos selecionáveis ​​para acomodar vários tamanhos de recursos; uma câmera variável permite medições em distâncias focais de 0.25″ a 3.5″ (6.35 mm a 89 mm).

Um estágio programável acionado por servomotor permite um posicionamento de amostra programável rápido e preciso. O design da porta cantilever dá aos operadores acesso fácil para posicionamento de amostra. A funcionalidade de visualização de tabela disponível cria imagens de toda a área mensurável e permite que o operador navegue para qualquer local com um único clique. Um joystick integrado opcional permite que os operadores movam o estágio XY do painel de controle do sistema sem intervenção de software.

A configuração colimada padrão da Série K inclui um multicolimador de 4 posições (4,8,12, 24, 0.1 e 0.2 mil / 0.3, 0.6, 2 e 2 mm); os tamanhos opcionais são 0.05x0.05mil (60 x 1.5 mm) até 400mil (10.2 mm). O foco variável facilita as medições em áreas rebaixadas. Um estágio programável permite a medição de peças com programas XYZ selecionáveis ​​de até XNUMX µin (XNUMX µm) de precisão. Os programas podem usar correspondência de padrões e foco automático para garantir medições precisas. Como em todos os sistemas XRF da Bowman, a Série K apresenta um Detector de Desvio de Silício (SDD) padrão e um tubo de Raios X de microfoco de longa duração.

Os XRFs da Série K estão em conformidade com ASTM B568, ISO 3497 e IPC-4552.

A Série K agora está disponível como sistema óptico policapilar para análise de características criticamente pequenas. A configuração óptica padrão inclui a óptica FWHM de 15 μm e um detector LSDD de alta resolução para processar taxas de contagem mais altas. Um estágio de amostra XY programável de precisão atualizado oferece precisão de estágio ainda melhor para menos de 80 µin (2 µm), essencial para garantir medições precisas de tamanhos de recursos pequenos. Para medir recursos nessa escala, uma câmera de alta ampliação de 140x com um zoom digital ainda maior é incluída. Junto com uma câmera secundária de baixa ampliação, essas câmeras trabalham juntas para permitir que os usuários vejam a parte inteira com uma visão panorâmica e cliquem e apontem para trazer automaticamente os recursos sob uma visão de alta ampliação. O sistema óptico tem uma distância focal próxima, portanto, as amostras medidas com a Série K devem ser planas.

Questões? Quer uma demonstração? Interessado em uma troca?