A série W Micro XRF usa óptica polipilar para focar o feixe de raios X em 7.5 µm FWHM, o menor tamanho de feixe do mundo para análise de espessura de cobertura usando a tecnologia XRF. Isso o torna ideal para medir amostras como BGAs e pontos de solda menores. Uma câmera de ampliação 140X é usada para medir detalhes nessa escala; é acompanhado por uma câmera secundária de baixa ampliação para visualização de amostras ao vivo e imagens macro-panorâmicas. O sistema de câmera dupla da Bowman permite que os operadores vejam a peça inteira, clique na imagem para ampliar com a câmera high-mag e identifique o detalhe a ser programado e medido.

Uma base XY programável com precisão menor que +/- 1 µm para cada eixo é usado para selecionar e medir vários pontos; O software de reconhecimento de padrões da Bowman e os recursos de auto foco também fazem isso automaticamente. O recurso de mapeamento 3D do sistema pode ser usado para visualizar a topografia de um revestimento em uma peça como uma pastilha de silicone.

A configuração padrão dos instrumentos da série W inclui óticas 7.5 µm com tubo de ânodo de molibdênio (cromo e tungstênio são opcionais) e um detector de desvio de silício de larga janela e alta resolução, que processa mais de 2 milhões de contagens por segundo.

O Micro XRF da Série W é o 7º modelo no conjunto de instrumentos XRF da Bowman. Como outros no portfólio, ele mede simultaneamente até 5 camadas de revestimento e executa o software Archer avançado para quantificar a espessura do revestimento dos fótons detectados. O software Archer combina controles visuais intuitivos com atalhos que economizam tempo, ampla capacidade de pesquisa e relatórios de “um clique”. O software também simplifica a criação de novos aplicativos pelo usuário.

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