Revestimentos sobre substrato de vidro

Revestimentos metálicos em substratos de vidro

O vidro é um novo substrato versátil e promissor, com vantagens adequadas para muitas aplicações. O vidro é um material estável, plano e liso, com uma superfície livre de distorção. Além de ser um ótimo isolante, comparado aos substratos de cerâmica e silício, também apresenta menor empenamento, baixa perda elétrica e é resistente a mudanças de temperatura.

Ele está emergindo como um substrato popular para embalagens eletrônicas avançadas, como interposers, RDL e TGV, bem como comunicações de RF e sensores ópticos e de imagem. Para a indústria de semicondutores, novas soluções e melhorias devem ser feitas em processos como manuseio de vidro, via/metalização para adotar totalmente os substratos de vidro. A inspeção do vidro também pode ser um desafio devido à sua transparência e alta superfície refletiva.

A fluorescência de raios X (XRF) permite um método rápido e confiável para medir com precisão a espessura e a composição de deposições metálicas em substratos de vidro. Todos os sistemas XRF da Bowman são equipados com detectores de desvio de silício (SDDs) capazes de medir filmes finos multicamadas. Além disso, o XRF não é destrutivo e tem um tempo mínimo de preparação de amostra, especialmente em comparação com métodos como corte transversal e MEV. Combinado com a automação do sistema opcional, o XRF pode ser totalmente integrado às linhas de produção atuais.

Leia nossa nota de aplicação de revestimentos sobre vidro para saber mais sobre o desempenho da aplicação.

Conclusão

Os sistemas Bowman XRF são ferramentas analíticas versáteis para medir revestimentos sobre vidro, juntamente com outras espessuras e composições de revestimento, bem como análise de soluções. Os custos reduzidos de tempo, pessoal e instrumentação exigidos por outros métodos tornam o Bowman XRF uma excelente alternativa. Ligue para nossa equipe de suporte para obter mais informações.

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