Requisitos IPC 4552- Rev. A/B

A IPC 4552-Rev A/B apresenta desafios para os fabricantes de PCBs que aplicam revestimentos ENIG em suas placas. Em particular, a nova especificação estabelece um limite superior para a quantidade de ouro que é aplicada para um ótimo desempenho do produto. Esta espessura de ouro deve ser monitorada de perto, e o método de medição aceito é o teste de espessura de XRF. Para medir com precisão a espessura do ouro nesta faixa recém-definida, são necessários hardware, software e padrões de calibração específicos de XRF.

A maioria dos fabricantes de PCBs já possui equipamentos XRF instalados como parte de seu processo de CQ, mas eles estão descobrindo que muitos dos instrumentos mais antigos lutam para atender às novas demandas de especificação do IPC e podem exigir a atualização para a mais recente tecnologia XRF. A Bowman é a única empresa que garante que todos os seus sistemas XRF atendem aos novos requisitos IPC 4552-Rev A/B.

Especificamente, o IPC exige que um estudo de desempenho do medidor seja executado medindo padrões de espessura conhecida >30 vezes e relatando os resultados estatísticos. Se o XRF não atender aos requisitos de exatidão e precisão, faixas de proteção devem ser aplicadas para diminuir ainda mais a faixa de tolerância de espessura, sobrecarregando os operadores do processo de galvanização.

Todos os sistemas Bowman foram comprovados e garantidos para atender e exceder os requisitos do estudo de bitola, portanto, não há preocupação com mudanças no processo de galvanização. Este alto nível de desempenho é possibilitado pelo uso exclusivo da tecnologia de detector de desvio de silício (SDD) da Bowman, a melhor disponível para instrumentos XRF. Os SDDs também fornecem medição direta de %P em depósitos de níquel eletrolítico, o que fornece informações mais atualizadas sobre o banho de galvanização e oferece ainda maior consistência no monitoramento da espessura do chapeamento.

Bowman oferece dois tipos de SDDs. O SDD padrão vem com todos os sistemas Bowman e oferece desempenho significativamente melhor em comparação com detectores de contador proporcional (“contador de prop”) ou detectores de PIN. Também oferecemos uma opção de atualização de SDD de grafeno de janela grande que melhora o desempenho geral, minimiza os tempos de teste (ou seja, <10s com colimador de 24mil para passar nos requisitos do medidor) e fornece ainda maior sensibilidade de elemento “light” para elementos como phos. Esses recursos exclusivos e nossa rede de suporte local de primeira classe são um argumento poderoso para escolher o Bowman para sua próxima compra de instrumento XRF.


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