A Bowman acaba de publicar um boletim de aplicações ansiosamente aguardado, detalhando a capacidade de seus instrumentos de bancada XRF para medir com precisão acabamentos metalizados de alumínio PVD. Estes tornaram-se acabamentos de alta demanda para
diversas aplicações dentro da indústria automotiva e em outros lugares, que requerem revestimentos funcionais ultrafinos.
O processo PVD deposita uma camada de material de alta densidade com apenas alguns nanômetros de espessura. Os Bowman XRFs medem com precisão o alumínio PVD, também o cromo PVD, tanto como material puro quanto como liga. A faixa de espessura efetiva é de 10-100 nm, sobre um ABS ou substrato de silício.
Essa capacidade é possível em parte pelo grande detector de desvio de silício da Bowman. “SDDs” fornecem a melhor resolução, menor nível de ruído (maior relação S/R) e tempos de teste mais curtos.
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Feito nos Estados Unidos