XRF para Semicondutores / Wafers

Bowman é o principal fabricante de classe mundial, de Instrumentos XRF para Aplicações de semicondutores

Detectores SDD

Software intuitivo e rico em recursos

A interface do software é o que permite que os operadores obtenham o máximo de um sistema XRF. Os operadores têm várias tarefas a serem executadas, e lutar com um protocolo de teste complicado não deve atrasá-los. Bowman desenvolveu software pensando no operador – e isso faz toda a diferença!

  • A interface de usuário mais intuitiva do setor. Projetado para minimizar erros, é acionado por ícones, com teclas de atalho personalizáveis, exibição e saída de dados flexíveis e um gerador de relatórios com um clique.
  • Acesso completo aos recursos sem restrições. O pacote completo de software é fornecido como padrão com cada sistema. Ele fornece acesso ilimitado para a criação de novos aplicativos ou receitas; nenhum software adicionado necessário.
  • Espessura do revestimento, ID da liga e análise de soluções capacidades são incorporadas em TODOS os sistemas Bowman para maximizar as capacidades analíticas do XRF. Meça até 5 camadas de revestimento, 30 elementos em qualquer camada e até identifique o grau de liga para classificação de metal. Análise de solução de banho de galvanização é uma maneira rápida de medir a concentração sem diluição, digestão ou titulação.
  • Gerenciamento de dados para relatórios seguros e organizados. Todos os dados são salvos automaticamente com um carimbo de hora e data. Os dados são armazenados localmente e podem ser exportados manual ou automaticamente para uma pasta de rede, SECS / GEM ou sistema SPC. Modelos de relatório baseados em Excel personalizáveis ​​e banco de dados pesquisável permitem que os dados sejam recuperados e apresentados facilmente.
  • Foco automático a laser é o mais rápido do mercado. O eixo Z atinge a posição de foco em menos de um segundo, evitando o deslocamento da amostra entre os operadores. Este recurso pode ser aplicado a programas multiponto para ajustar o empenamento em tempo real.
  • Capacidade de reconhecimento de padrões garante a centralização perfeita do feixe em recursos muito pequenos. As imagens dos recursos são armazenadas e combinadas com ajustes de posição do palco, permitindo uma programação verdadeiramente automatizada com locais de medição precisos.

Brochura de Semicondutores Bowman

Baixar

Bowman Halbleiter Broschüre

Baixar

Precisa de ajuda?  CHAME