Os sistemas de análise de revestimento Bowman XRF medem estas aplicações:

Ferramentas de corte, como brocas, machos, fresas e muito mais, precisam atender a requisitos específicos de material para serem eficazes. Eles devem ser mais duros que o material da peça e permanecer assim nas temperaturas de trabalho, bem como resistentes à flexão, desgaste e corrosão. Embora materiais como aços para ferramentas e ligas de tungstênio cumpram muitos requisitos, eles não são perfeitos e ainda são suscetíveis ao seu ambiente de trabalho. Para prolongar a vida útil das ferramentas de corte, os laminadores podem adicionar uma variedade de revestimentos para aumentar sua resiliência, sendo alguns dos mais populares os revestimentos PVD.

Revestimentos de deposição física de vapor (PVD) – os mais comuns para ferramentas de corte sendo materiais metalocerâmicos, como nitreto de titânio (TiN), carbonitreto de titânio (TiCN), nitreto de cromo (CrN) e muito mais – podem aumentar a vida útil da ferramenta em 3 a 10 vezes . Esses revestimentos têm retenção de borda e resistência à corrosão superiores, enquanto sua suavidade reduz bastante o atrito e o desgaste. Além disso, eles vêm em uma variedade de cores para se diferenciarem esteticamente de seus equivalentes não revestidos. Os processos PVD para esses revestimentos funcionam evaporando e ionizando uma fonte de metal sólido em uma câmara de vácuo, enquanto introduz um gás reativo para formar o material de revestimento que se condensa na superfície da ferramenta. O revestimento resultante é muito fino – normalmente variando de 0.0001'-0.0005' (2.5-12.5 mícrons).

A fluorescência de raios X (XRF) permite um método rápido e confiável para medir com precisão a espessura dos revestimentos PVD, bem como identificar a composição da liga da ferramenta por baixo. Além disso, o XRF não é destrutivo e possui tempos de ciclo muito mais rápidos e preparação mínima de amostras, gerando resultados em segundos. Todos os sistemas XRF da Bowman são equipados com detectores de desvio de silício (SDDs) com limites de detecção mais baixos e resolução mais alta, tornando-os a ferramenta ideal para controle de processo e qualidade.

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