Микросхема W серии Micro XRF использует поликапиллярную оптику для фокусировки рентгеновского луча до 7.5 мкм FWHM, самого маленького в мире размера луча для анализа толщины покрытия с использованием технологии XRF. Это делает его идеальным для измерения таких образцов, как BGA и меньшие пайки. Камера с увеличением 140X используется для измерения характеристик в этом масштабе; к нему прилагается дополнительная камера с малым увеличением для просмотра образцов в реальном времени и макросъемки с высоты птичьего полета. Система с двумя камерами Bowman позволяет операторам видеть всю деталь, щелкать изображение для увеличения с помощью крупноформатной камеры и точно определять функцию, которую нужно запрограммировать и измерить.

Программируемая ступень XY с точностью до +/- 1 мкм для каждой оси используется для выбора и измерения нескольких точек; Программное обеспечение распознавания образов Bowman и функции автофокуса также делают это автоматически. Возможность отображения системы 3D может быть использована для просмотра топографии покрытия на части, такой как кремниевая пластина.

Стандартная конфигурация приборов серии W включает в себя оптику 7.5 μm с трубой с Мо анодом (аноды хром и вольфрам - опционально) и силиконовый дрейфовый детектор высокого разрешения, который обрабатывает более 2 миллионов отсчетов в секунду.

W Series Micro XRF — это седьмая модель в линейке инструментов Bowman XRF. Как и другие приборы в портфолио, он одновременно измеряет до 7 слоев покрытия и использует передовое программное обеспечение Archer для количественного определения толщины покрытия по обнаруженным фотонам. Программное обеспечение Archer сочетает в себе интуитивно понятные визуальные элементы управления с быстрыми ярлыками, широкими возможностями поиска и созданием отчетов «в один щелчок». Программное обеспечение также упрощает создание пользователем новых приложений.

Вопросы? Хотите демо? Заинтересованы в обмене?