Измерение толщины покрытия для любого промышленного и исследовательского использования

Измерение толщины покрытия является обязательным требованием для производителей, которые наносят покрытия на металлические детали, поскольку инструменты обеспечивают качество, точные характеристики и экономят расходы.

Приборы для измерения толщины покрытия Bowman имеют запатентованную технологию обнаружения и передовое программное обеспечение, которое позволяет системам также определять элементы, присутствующие в образце. Наши приборы XRF одновременно измеряют до пяти слоев покрытия, каждый из которых может быть сплавом, а также могут измерять HEA (покрытия с высокой энтропией).

Микрофокусная видеокамера, совмещенная с осью рентгеновской оптики, выбирает область на измеряемом образце. Измерительная камера с лазерной фокусировкой, вмещает образцы различной высоты.

Система измерения покрытия Bowman XRF соответствует самым строгим требованиям отрасли к точности, надежности и простоте использования. Компактный, эргономичный дизайн делает анализ удобным для каждого приложения - по цене, гарантированной быстрой рентабельностью инвестиций.

Чего вы хотите достичь?

Большая точность? Более быстрая пропускная способность? Больше гибкости в размере выборки или выходе?

Давайте поговорим.

Конфигурации для любых потребностей

  • Серия G анализ переходных металлов для ювелирной промышленности
  • Серия B для небольших гальванических образцов
  • Серия P «Многозадачник» для электроники, общих защитных покрытий, благородных металлов
  • Серия O анализатор для тонких пленок
  • Серия M анализатор с поликапиллярной оптикой μ-spot
  • Серия L для больших гальванических образцов
  • Серия W для измерения наименьших характеристик в микроэлектронике

 

Умный дизайн, мощный анализ
  • Быстрый неразрушающий анализ в течение нескольких секунд
  • Одновременный анализ состава до 25 элементов
  • Измерьте до пяти слоев покрытия одновременно, все из которых могут быть сплавами
  • Фундаментальные параметры (ФП) - стандартная толщина и анализ состава
  • Простота настройки и управления - одно подключение USB-кабеля
  • Простые элементы управления на передней панели
  • Маленький след
  • Небольшой вес
Интуитивно понятный пользовательский интерфейс
  • Предназначен для максимальной гибкости и минимизации пользовательских ошибок.
  • .Net на основе Xralizer программного обеспечения.
  • Интуитивно понятный графический интерфейс, управляемый значками
  • Мощный качественный анализ
  • Библиотека стандартов с автоматической выборкой
  • Настраиваемые сочетания клавиш для быстрого анализа
  • Гибкое отображение и вывод данных
  • Мощный генератор отчетов
Производительность, мощность, удобство
  • Гибкая конструкция с близким соединением для повышения эффективности, точности и мощности
  • Проверенный на практике твердотельный детектор обеспечивает большее разрешение, стабильность и чувствительность
  • Быстрое время прогрева и более длительный срок службы рентгеновской трубки
  • Анализ L-линии для тонких покрытий из Ag, Sn
  • Несколько первичных фильтров и коллиматоров для универсальности
  • Переменное фокусное расстояние для образцов сложных форм и анализа более толстых слоев
  • Модульная конструкция компонентов для удобства обслуживания

 

 

Четыре варианта выборки

Стандарт
Фиксированная база

Расширенный программируемый
XY Base

Моторизованная / программируемый
XY Base

Максимальное перемещение
XY Base

Вверх