Измерение толщины покрытия является обязательным требованием для производителей, которые наносят покрытия на металлические детали, поскольку инструменты обеспечивают качество, точные характеристики и экономят расходы.
Приборы для измерения толщины покрытия Bowman имеют запатентованную технологию обнаружения и передовое программное обеспечение, которое позволяет системам также определять элементы, присутствующие в образце. Наши приборы XRF одновременно измеряют до пяти слоев покрытия, каждый из которых может быть сплавом, а также могут измерять HEA (покрытия с высокой энтропией).
Микрофокусная видеокамера, совмещенная с осью рентгеновской оптики, выбирает область на измеряемом образце. Измерительная камера с лазерной фокусировкой, вмещает образцы различной высоты.
Система измерения покрытия Bowman XRF соответствует самым строгим требованиям отрасли к точности, надежности и простоте использования. Компактный, эргономичный дизайн делает анализ удобным для каждого приложения - по цене, гарантированной быстрой рентабельностью инвестиций.
Чего вы хотите достичь?
Большая точность? Более быстрая пропускная способность? Больше гибкости в размере выборки или выходе?
Давайте поговорим.Конфигурации для любых потребностей
- Серия G анализ переходных металлов для ювелирной промышленности
- Серия B для небольших гальванических образцов
- Серия P «Многозадачник» для электроники, общих защитных покрытий, благородных металлов
- Серия L для больших гальванических образцов
- Серия K Площадь измеряемых деталей 12 x 12 дюймов
- Серия O анализатор для тонких пленок
- Серия M анализатор с поликапиллярной оптикой μ-spot
- Серия W для измерения наименьших характеристик в микроэлектронике
- Серия для точных измерений полупроводников и микроэлектроники
- Быстрый неразрушающий анализ в течение нескольких секунд
- Одновременный анализ состава до 30 элементов
- Измерьте до пяти слоев покрытия одновременно, все из которых могут быть сплавами
- Фундаментальные параметры (ФП) - стандартная толщина и анализ состава
- Простота настройки и управления - одно подключение USB-кабеля
- Простые элементы управления на передней панели
- Маленький след
- Небольшой вес
- Предназначен для максимальной гибкости и минимизации пользовательских ошибок.
- Фильтр Лучник программное обеспечение
- Интуитивно понятный графический интерфейс, управляемый значками
- Мощный качественный анализ
- Библиотека стандартов с автоматической выборкой
- Настраиваемые сочетания клавиш для быстрого анализа
- Гибкое отображение и вывод данных
- Мощный генератор отчетов
- Гибкая конструкция с близким соединением для повышения эффективности, точности и мощности
- Проверенный на практике твердотельный детектор обеспечивает большее разрешение, стабильность и чувствительность
- Быстрое время прогрева и более длительный срок службы рентгеновской трубки
- Анализ L-линии для тонких покрытий из Ag, Sn
- Несколько первичных фильтров и коллиматоров для универсальности
- Переменное фокусное расстояние для образцов сложных форм и анализа более толстых слоев
- Модульная конструкция компонентов для удобства обслуживания
Четыре варианта выборки
Стандарт
Фиксированная база
Расширенный программируемый
XY Base
Моторизованная / программируемый
XY Base
Максимальное перемещение
XY Base
Сделано в США