SDD обеспечивают лучшее разрешение, самый низкий уровень шума (самое высокое отношение сигнал/шум), долговременная стабильность и минимальное время тестирования. Они также измеряют %P непосредственно в никелевых отложениях, полученных химическим способом. В сочетании с высоконадежной рентгеновской трубкой Bowman этот аппаратный дуэт представляет собой прочное ядро ​​каждой предлагаемой нами XRF-системы.

Измеряете ли вы ENIG, ENEPIG, HASL, химический никель, %P, RoHS или другое применение печатных плат, у Bowman есть идеальное решение для ваших требований. Имея полный спектр моделей и аппаратных опций, наши специалисты помогут определить, что лучше всего соответствует вашим потребностям.

Две самые популярные модели для анализа печатных плат являются системами серий P и B. Серия P включает в себя мультиколлиматорный узел, позволяющий использовать пластины различных размеров, а также различные программируемые размеры предметного столика XY и диапазоны перемещений. Серия B является наиболее доступным вариантом и предлагает те же характеристики измерения, что и серия P, без программируемого предметного столика или коллиматоров нескольких размеров.

Если размеры ваших объектов приближаются к 100 мкм или меньше, Bowman предлагает системы поликапиллярной оптики, которые сочетают в себе очень малый размер рентгеновского луча с высокими уровнями потока. По мере уменьшения размеров коллиматора одновременно уменьшается количество рентгеновских лучей (поток). Это напрямую влияет на повторяемость и увеличивает необходимое время испытаний для достижения приемлемых результатов. Поликапиллярная оптика предлагает наиболее эффективное решение для очень маленьких элементов, а Bowman предлагает размеры луча до 7.5 мкм на полувысоте, что является самым маленьким в отрасли.