Серија М КСРФ
М серија је врхунско мјерење дебљине оплате високих перформанси за најмања својства. Поли-капиларна оптика у серији М је напреднија од оне О Сериес, фокусирајући рендгенски сноп на 7.5 μм ФВХМ. За мерење карактеристика на тој скали, укључена је камера са увећањем од 140к са још већим дигиталним зумом. Видно поље постаје ограничено са већим увећањем, па друга камера снима макро слику дела који се мери. Систем са две камере омогућава оператерима да виде цео део, кликну на слику да увећају камером велике магне и прецизно одреде функцију коју треба мерити.
Високо прецизна програмабилна КСИ фаза може се користити за одабир и мјерење више точака; Софтвер за распознавање образаца може то да уради аутоматски. Постоји систем за мапирање КСНУМКС-Д који се може користити да се види топографија превлаке на површини дела као што је силиконска плочица.
Стандардна конфигурација укључује оптику од 15 μм и СДД детектор високе резолуције за обраду већих брзина бројања. Програмабилна КСИ фаза узорка је такође стандардна. Оптички систем има блиску жижну даљину, тако да узорци измерени серијом М морају бити равни.
Сада доступан са опцијом продужене фазе
Перформансе апликације
| ЕНЕПИГ | Елецтролесс Ницкел | ||||
|---|---|---|---|---|---|
| μм Ау | μм Пд | μм Ни | μм НиП | μм% П. | |
| аве | 0.043 | 0.08 | 3.72 | 10.202 | 10.17 |
| СтдДев | 0.0005 | 0.0009 | 0.00010 | 0.1089 | 0.29 |
| Домет | 0.0015 | 0.0030 | 0.040 | 0.3863 | 0.9900 |
| % РСД | 100% | 100% | 100% | 100% | 100% |
Питања? Желите демо? Да ли сте заинтересовани за трговину?
КСРФ серије М најбоље одговара корисницима са овим захтевима:
- Веома мали делови / карактеристике као што су они који се налазе у полупроводницима, конекторима или ПЦБ-има
- Захтев да се тестира више узорака или локација по новој количини материјала
- Врло танке превлаке (<100нм)
- Веома кратка времена мерења (КСНУМКС-КСНУМКС секунди)
- Гарантовано испуњава ИПЦ-4552, 4553, 4554 и 4556
- АСТМ Б568 и ИСО 3497
- Жеља да се побољшају перформансе и ефикасност старог КСРФ-а - и добије великодушан бонус за трговину!
Спецификације
| Рендгенска ексцитација: | 50В В циљана капиларна оптика са флексибилним снопом @15 ФВХМ на 17 КеВ Опционо: Цр, Мо или Рх |
| Детектор: | Детектор са силицијумом са КСНУМКСеВ резолуцијом |
| Број анализа слојеви и елементи: |
КСНУМКС слојеви (КСНУМКС слојеви + база) и КСНУМКС елементи у сваком слоју са анализом композиције до КСНУМКС елемената истовремено |
| Филтери / колиматори: | КСНУМКС примарни филтери |
| Излазна фокусна дубина: | Фиксирано на 0.15 3.81 (XNUMX мм) |
| Дигитална обрада импулса: | КСНУМКС ЦХ дигитални вишеканални анализатор са флексибилним временом обликовања Аутоматска обрада сигнала укључујући корекцију мртвог времена и корекцију вршног одступања |
| Рачунар: | Интел, ЦОРЕ иКСНУМКС КСНУМКС Процесор (КСНУМКСГХз), КСНУМКСГБ ДДРКСНУМКС меморија, Мицрософт Виндовс КСНУМКС Проф, КСНУМКС-битни еквивалент |
| Оптика за камеру: | 1/4 "(6 мм) ЦМОС-1280 × 720 ВГА резолуције, 250Кс са двоструком камером или 45Кс са једном камером на екрану од 381 мм (15") |
| Увећање видеозаписа: | 140Кс микро, 7Кс дигитални зум, 9Кс макро и приказ табеле |
| Напајање: | КСНУМКСВ, КСНУМКС-КСНУМКС волти, са фреквентним опсегом од КСНУМКСХз до КСНУМКСХз |
| Радно окружење: | КСНУМКС ° Ф (КСНУМКС ° Ц) до КСНУМКС ° Ф (КСНУМКС ° Ц) и до КСНУМКС% РХ, без кондензације |
| Тежина: | КСНУМКСкг |
| Програмабилни КСИ: | Величина стола: 431 мм (17 ″) к 406 мм (16 ″) | Пут: 165 мм (6.5 ″) к 165 мм (6.5 ″) високе прецизности Сада доступан са продужен стаге оптион |
| Унутрашње димензије: | Висина: 137 мм (5.4 ″), ширина: 310 мм (12 ″), дубина: 340 мм (13 ″) |
| Спољашње димензије: | Висина: 500 мм (20 ″), ширина: 450 мм (18 ″), дубина: 600 мм (24 ″) |
Произведено у САД