XRF技术的优势

XRF对金属元素高度敏感，尤其是元素周期表上的二十二号钛元素到九十二号铀元素。 对于金属元素的镀层厚度分析，XRF方法可测量任何金属或非金属基材上的单层或多层金属镀层。

对于合金分析，XRF可以确定每种合金元素的组成百分比，并确定合金的名称。 对于溶液分析，电镀槽中的金属离子可以量化用于过程控制。


博曼XRF的主要特点

  • 无损检测，无需准备过多测量样品
  • 快速测量，数秒出测量结果
  • 操作简单，上手容易
  • 适应不同类型的基体样品
  • 可对大样品上的细微特征做小斑点分析
  • 同时分析多种金属元素
  • 受工业认证机构认可

XRF探测器

在XRF设备中，不同探测器性能的比较

封气正比计数器

  • 高基线噪音
  • 分辨率差
  • 受气温和湿度影响
  • 经常需要重新校准

Si-PIN半导体探测器

  • 低噪音水平
  • 高分辨率
  • 检出限大
  • 半导体冷却：非常稳定且不受气候影响

SDD硅漂移探测器

  • 最低基线噪音
  • 最高计数检测
  • 最高分辨率
  • 最佳检出限
  • 最广泛的元素测量范围
  • 半导体冷却：非常稳定且不受气候影响

所有 Bowman XRF 仪器都使用硅漂移探测器，以实现最高分辨率、最低噪声水平和最大的整体稳定性。

确保实现最精确的镀层厚度测量和元素分析。