XRF对金属元素高度敏感,尤其是元素周期表上的二十二号钛元素到九十二号铀元素。 对于金属元素的镀层厚度分析,XRF方法可测量任何金属或非金属基材上的单层或多层金属镀层。
对于合金分析,XRF可以确定每种合金元素的组成百分比,并确定合金的名称。 对于溶液分析,电镀槽中的金属离子可以量化用于过程控制。

博曼XRF的主要特点
- 无损检测,无需准备过多测量样品
- 快速测量,数秒出测量结果
- 操作简单,上手容易
- 适应不同类型的基体样品
- 可对大样品上的细微特征做小斑点分析
- 同时分析多种金属元素
- 受工业认证机构认可
在XRF设备中,不同探测器性能的比较
封气正比计数器
- 高基线噪音
- 分辨率差
- 受气温和湿度影响
- 经常需要重新校准
Si-PIN半导体探测器
- 低噪音水平
- 高分辨率
- 检出限大
- 半导体冷却:非常稳定且不受气候影响
SDD硅漂移探测器
- 最低基线噪音
- 最高计数检测
- 最高分辨率
- 最佳检出限
- 最广泛的元素测量范围
- 半导体冷却:非常稳定且不受气候影响
所有 Bowman XRF 仪器都使用硅漂移探测器,以实现最高分辨率、最低噪声水平和最大的整体稳定性。
确保实现最精确的镀层厚度测量和元素分析。