K系列 是为处理各种样品的质量部门开发的。 它在高度高达 12 英寸（304 毫米）的零件上具有领先的 12 英寸（304 毫米）x 9 英寸（228 毫米）可测量区域。 自动多准直器允许选择光斑尺寸以适应各种特征尺寸； 可变相机允许在 25 英寸至 3.5 英寸的焦距范围内进行测量。
伺服电机驱动的可编程平台可实现快速、精确的可编程样品定位。 悬臂门设计使操作员可以轻松放置样品。 可用的表格视图功能可对整个可测量区域进行成像，并允许操作员只需单击一下即可导航到任何位置。 可用的内置操纵杆使操作员可以从系统的控制面板移动 XY 平台，无需软件干预。
标准 K 系列配置包括 4 位（4,8,12、24、2 和 2 mil）多准直器； 可选尺寸为 60xXNUMXmil 至 XNUMXmil。 可变焦便于在凹陷区域进行测量。 伺服电机驱动的可编程平台允许使用可选的 XYZ 程序进行零件测量。 程序可以使用模式匹配和自动对焦来确保精确的测量。 与所有 Bowman XRF 系统一样，K 系列配备标准硅漂移探测器 (SDD) 和长寿命微焦点 X 射线管。
K 系列 XRF 符合 ASTM B568、ISO 3497 和 IPC-4552 标准。
有什么问题吗想要演示吗？ 有兴趣以旧换新？
K 系列 XRF 最适合有以下要求的客户：
- 保证符合 IPC-4552、4553、4554 和 4556
- 卓越的人体工程学设计：轻松访问、可编程载物台、灵活的行程
- 符合 ASTM B568 和 ISO 3497 标准
- RoHS 能力
产品规格
| 元素测量范围： | 13号铝元素 到 92号铀元素 |
| X射线管： | 50 W（50kV 和 1mA）微聚焦 W 阳极管（可提供 Cr、Mo、Rh 阳极） |
| 探测器： | 190eV及以上分辨率的Si-PIN固态探测器 |
| 分析层数 及元素数： |
5 层（4 层 + 基础），每层 10 个元素。 同时分析多达 30 种元素的成分 |
| 滤波器/准直器： | 4位置一次滤波器/ 4种规格准直器 |
| 焦距： | 具有激光和图像自动对焦功能的多个固定焦深 |
| 数字脉冲处理： | 4096 CH 数字多通道分析仪，整形时间灵活。 自动信号处理，包括死区时间校正和逃逸峰值校正 |
| 计算机： | Microsoft Windows 10/11 Prof，64 位等效版本 |
| 相机： | 2x 1/3″ CMOS- 2688×1520 分辨率 |
| 视频放大倍率： | 30 倍微距和 7 倍数码变焦：标准； 55X微型可选 |
| 电源： | 480W，100〜240V; 频率范围为47Hz到63Hz |
| 重量： | 270 磅/120 公斤 |
| 可编程XY平台： | 工作台尺寸：12 英寸（304 毫米）x 12 英寸（304 毫米） XY 行程：12 英寸（304 毫米）x 12 英寸（304 毫米） |
| 样品仓尺寸： | 高度：609mm（24"），宽度：609mm（24"），深度：228mm（9"） |
| 外形尺寸： | 高度：712mm（28"），宽度：928mm（36.5"），深度：674mm（26.5"） |
美国制造