L系列 是 Bowman 用途最广泛的仪器。它结合了 P 系列的所有功能，并配备了更大的样品室和更大的 XY 台行程。对于任何方向大于 ~10 英寸 (254 毫米) 的样品，L 系列是必备之选。大型样品台和行程允许测量大型部件或容纳多个部件的大型样品夹具。样品室完全封闭，样品室尺寸最大为 22 英寸 (559 毫米) x 24 英寸 (610 毫米) x 13 英寸 (330 毫米)。XY 台行程距离为 10 英寸 x 10 英寸 (254 毫米 x 254 毫米)。
通常，XRF 的选择取决于我们的 P 系列——或者 L 系列。 性能和特点是一样的； 房间大小是他们不同的地方。 这 短片 可以帮助您决定哪种方法最适合您的测试要求。
标准配置包括一个 4 位置多准直器组件和一个用于测量凹陷区域的可变焦距相机。与其他型号一样，准直器尺寸和焦距可定制。包括可编程 XY 平台，允许腔室 Z 高度为 10 英寸 (254 毫米)。可选地，可以移除平台以允许最大腔室 Z 高度为 13 英寸 (330 毫米)。包括 SDD 探测器以及我们的长寿命微焦点 X 射线管。
有什么问题吗想要演示吗？ 有兴趣以旧换新？
L系列可满足以下类型用户的需求：
- 尺寸超过10英寸（254毫米）到最大24英寸（600毫米）的零件
- 需容纳多个样品进行自动化多点测量
- 可扩展到更大尺寸的样品，用于未来的项目
- 保证符合 IPC-4552、4553、4554 和 4556
- ASTM B568 和 ISO 3497
- 渴望升级旧的XRF的性能和效率–并获得丰厚的以旧换新奖励！
- 符合RoHS要求
产品规格
| 元素测量范围： | 13号铝元素 到 92号铀元素 |
| X射线管： | 50 W（50kV和1mA）微聚焦射线管 |
| 探测器： | 190eV及以上分辨率的Si-PIN固态探测器 |
| 分析层数 及元素数： |
5层（4层+基材） 每层可分析10种元素，成分分析最多可分析30种元素 |
| 滤波器/准直器： | 4位置一次滤波器/ 4种规格准直器 |
| 焦距： | 可变焦 |
| 数字脉冲处理： | 4096 CH数字多通道分析仪，具有灵活的整形时间; 自动信号处理包括死区时间校正和逃逸峰值校正 |
| 计算机： | Intel CORE i5 第 9 代台式机处理器、固态硬盘、16GB RAM、Microsoft Windows 11 Professional 64 位等效版本 |
| 相机： | 1/4''（6mm）CMOS-1280×720 VGA分辨率 |
| 视频放大倍率： | 30X 微型和 7X 数字变焦：标准； 55X 微型：可选 现在可用 可选 双摄像头桌面视图 |
| 电源： | 150W，100-240V，频率范围为47Hz至63Hz |
| 工作环境： | 温度介于50°F（10°C）与104°F（40°C）之间，相对湿度小于98％，无冷凝 |
| 重量： | 110kg |
| 可编程XY平台： | 桌子尺寸：254mm（10“）x 254mm（10”）| 行程：254毫米（10英寸）x 254毫米（10英寸） |
| 样品仓尺寸： | 高度：254mm（10"），宽度：559mm（22"），深度：610mm（24"） |
| 外形尺寸： | 高度：762mm（30"），宽度：711mm（28"），深度：762mm（30"） |
美国制造