O系列 结合了高性能和小的X射线光斑尺寸。 多毛细管聚焦光学系统可以取代标准Bowman系统中安装的准直仪组件，从而实现这一目标。 光学器件旨在将来自管出口窗口的X射线聚焦到非常小的光斑尺寸（80μmFWHM），同时实际上保留100％的管通量。 因此，与准直仪系统一样，多毛细管光学组件不会使无法穿过小孔的X射线衰减，而是使来自管的几乎所有X射线都能到达样品。 结果对于测试非常小的组件或薄涂层的灵敏度更高。 与光学系统和类似尺寸的准直仪相比，更短的测试时间可以实现更好的可重复性。
该系列采用80μm毛细管光学结构，同时配备可处理更高计数速率的高分辨率SDD硅漂移探测器。与 P系列其他型号相比，O系列的相机具有更大的放大倍数，55x视频放大和7x数码变焦。一个可编程的XY样品台也是标准配置。O系列的焦距非常接近，所以使用时样品必须平整。
现在提供扩展阶段选项
性能表现
| 镍钯金 | 化学镍 | ||||
|---|---|---|---|---|---|
| 微米金 | 微米钯 | 微米镍 | 微米NiP | 微米％P | |
| Ave | 0.043 | 0.08 | 3.72 | 10.202 | 10.17 |
| StdDev | 0.0005 | 0.0009 | 0.00010 | 0.1089 | 0.29 |
| 范围 | 0.0015 | 0.0030 | 0.040 | 0.3863 | 0.9900 |
| %RSD | 1.05% | 1.13% | 0.03% | 1.07% | 2.85% |
有什么问题吗想要演示吗？ 有兴趣以旧换新？
O系列可满足以下类型用户的需求：
- 极小的样品，如半导体，连接器或PCB
- 需要测试多个样品的多个位置
- 需要测量非常薄的涂层（<100nm）
- 需要在短时间内完成测量（1-5秒）
- 保证符合 IPC-4552、4553A、4554 和 4556
- ASTM B568 和 ISO 3497
- 渴望升级旧的XRF的性能和效率–并获得丰厚的以旧换新奖励！
产品规格
| X射线管： | 50 W 钨靶，带毛细管光学元件，FWHM 为 80um，辐射能量为 17 KeV |
| 探测器： | 优于190eV分辨率的大窗口硅漂移探测器 |
| 分析层数 及元素数： |
5层（4层+基材） 每层可分析10种元素，成分分析最多可分析30种元素 |
| 滤波器/准直器： | 4位置一次滤波器 |
| 输出焦深： | 固定为0.1英寸（2.54毫米） |
| 数字脉冲处理： | 4096 多通道数字处理器，自动死时间和逃逸峰校正 |
| 计算机： | Intel CORE i5 第 9 代台式机处理器、固态硬盘、16GB RAM、Microsoft Windows 11 Professional 64 位等效版本 |
| 相机： | 1/4''（6mm）CMOS-1280×720 VGA分辨率 |
| 视频放大倍率： | 55X Micro 7X 数码变焦 |
| 电源： | 150W，100-240V，频率范围为47Hz至63Hz |
| 工作环境： | 温度介于68°F（20°C）与77°F（25°C）之间，相对湿度小于98％，无冷凝 |
| 重量： | 52-70kg |
| 可编程XY平台： | 工作台尺寸：330毫米 (13″) x 381毫米 (15″)| 行程：127毫米 (5″) x 152毫米 (6″) 现在可用 可选 延伸阶段或封闭室 |
| 样品仓尺寸： | 高度：140mm（5.5"），宽度：305mm（12"），深度：330mm（13"） |
| 外形尺寸： | 高度：457mm（18"），宽度：457mm（18"），深度：610mm（24"） |
美国制造