O系列

O系列

用于半导体的Bowman品牌XRF

O系列 结合了高性能和小的X射线光斑尺寸。 多毛细管聚焦光学系统可以取代标准Bowman系统中安装的准直仪组件,从而实现这一目标。 光学器件旨在将来自管出口窗口的X射线聚焦到非常小的光斑尺寸(80μmFWHM),同时实际上保留100%的管通量。 因此,与准直仪系统一样,多毛细管光学组件不会使无法穿过小孔的X射线衰减,而是使来自管的几乎所有X射线都能到达样品。 结果对于测试非常小的组件或薄涂层的灵敏度更高。 与光学系统和类似尺寸的准直仪相比,更短的测试时间可以实现更好的可重复性。

该系列采用80μm毛细管光学结构,同时配备可处理更高计数速率的高分辨率SDD硅漂移探测器。与 P系列其他型号相比,O系列的相机具有更大的放大倍数,55x视频放大和7x数码变焦。一个可编程的XY样品台也是标准配置。O系列的焦距非常接近,所以使用时样品必须平整。

现在提供扩展阶段选项

性能表现

镍钯金 化学镍
微米金 微米钯 微米镍 微米NiP 微米%P
Ave 0.043 0.08 3.72 10.202 10.17
StdDev 0.0005 0.0009 0.00010 0.1089 0.29
范围 0.0015 0.0030 0.040 0.3863 0.9900
%RSD 1.05% 1.13% 0.03% 1.07% 2.85%

 

有什么问题吗想要演示吗? 有兴趣以旧换新?

            O系列可满足以下类型用户的需求:

            • 极小的样品,如半导体,连接器或PCB
            • 需要测试多个样品的多个位置
            • 需要测量非常薄的涂层(<100nm)
            • 需要在短时间内完成测量(1-5秒)
            • 保证符合 IPC-4552、4553A、4554 和 4556
            • ASTM B568 和 ISO 3497
            • 渴望升级旧的XRF的性能和效率–并获得丰厚的以旧换新奖励!

            产品规格

            X射线管: 50 W 钨靶,带毛细管光学元件,FWHM 为 80um,辐射能量为 17 KeV
            探测器: 优于190eV分辨率的大窗口硅漂移探测器
            分析层数
            及元素数:
            5层(4层+基材) 每层可分析10种元素,成分分析最多可分析30种元素
            滤波器/准直器: 4位置一次滤波器
            输出焦深: 固定为0.1英寸(2.54毫米)
            数字脉冲处理: 4096 多通道数字处理器,自动死时间和逃逸峰校正
            计算机: Intel CORE i5 第 9 代台式机处理器、固态硬盘、16GB RAM、Microsoft Windows 11 Professional 64 位等效版本
            相机: 1/4''(6mm)CMOS-1280×720 VGA分辨率
            视频放大倍率: 55X Micro 7X 数码变焦
            电源: 150W,100-240V,频率范围为47Hz至63Hz
            工作环境: 温度介于68°F(20°C)与77°F(25°C)之间,相对湿度小于98%,无冷凝
            重量: 52-70kg
            可编程XY平台: 工作台尺寸:330毫米 (13″) x 381毫米 (15″)| 行程:127毫米 (5″) x 152毫米 (6″)
            现在可用 可选 延伸阶段或封闭室
            样品仓尺寸: 高度:140mm(5.5"),宽度:305mm(12"),深度:330mm(13")
            外形尺寸: 高度:457mm(18"),宽度:457mm(18"),深度:610mm(24")

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