O系列 结合了高性能和小的X射线光斑尺寸。 多毛细管聚焦光学系统可以取代标准Bowman系统中安装的准直仪组件,从而实现这一目标。 光学器件旨在将来自管出口窗口的X射线聚焦到非常小的光斑尺寸(80μmFWHM),同时实际上保留100%的管通量。 因此,与准直仪系统一样,多毛细管光学组件不会使无法穿过小孔的X射线衰减,而是使来自管的几乎所有X射线都能到达样品。 结果对于测试非常小的组件或薄涂层的灵敏度更高。 与光学系统和类似尺寸的准直仪相比,更短的测试时间可以实现更好的可重复性。
该系列采用80μm毛细管光学结构,同时配备可处理更高计数速率的高分辨率SDD硅漂移探测器。与 P系列其他型号相比,O系列的相机具有更大的放大倍数,55x视频放大和7x数码变焦。一个可编程的XY样品台也是标准配置。O系列的焦距非常接近,所以使用时样品必须平整。
现在提供扩展阶段选项
性能表现
镍钯金 | 化学镍 | ||||
---|---|---|---|---|---|
微米金 | 微米钯 | 微米镍 | 微米NiP | 微米%P | |
Ave | 0.043 | 0.08 | 3.72 | 10.202 | 10.17 |
StdDev | 0.0005 | 0.0009 | 0.00010 | 0.1089 | 0.29 |
范围 | 0.0015 | 0.0030 | 0.040 | 0.3863 | 0.9900 |
%RSD | 1.05% | 1.13% | 0.03% | 1.07% | 2.85% |
有什么问题吗想要演示吗? 有兴趣以旧换新?
O系列可满足以下类型用户的需求:
- 极小的样品,如半导体,连接器或PCB
- 需要测试多个样品的多个位置
- 需要测量非常薄的涂层(<100nm)
- 需要在短时间内完成测量(1-5秒)
- 保证符合 IPC-4552、4553A、4554 和 4556
- ASTM B568,DIN 50987和ISO 3497
- 渴望升级旧的XRF的性能和效率–并获得丰厚的以旧换新奖励!
产品规格
X射线管: | 50 W Mo 靶,带毛细管光学器件 @80um FWHM,17 KeV |
探测器: | 135eV分辨率的硅漂移探测器 |
分析层数 及元素数: |
5层(4层+基材) 每层可分析10种元素,成分分析最多可分析25种元素 |
滤波器/准直器: | 2位置一次滤波器 |
输出焦深: | 固定为0.1英寸(2.54毫米) |
数字脉冲处理: | 4096 多通道数字处理器,自动死时间和逃逸峰校正 |
计算机: | 英特尔, 酷睿 i5 3470 处理器 (3.2GHz), 8GB DDR3 内存, 微软 Windows 10 专业版, 64位 |
相机: | 1/4英寸(6毫米)CMOS-1280×720 VGA分辨率,双摄像头为250倍,单摄像头为45倍,屏幕为15英寸 |
视频放大倍率: | 55X Micro 7X 数码变焦 |
电源: | 150W,100-240V,频率范围为47Hz至63Hz |
工作环境: | 温度介于68°F(20°C)与77°F(25°C)之间,相对湿度小于98%,无冷凝 |
重量: | 53kg |
可编程XY平台: | 桌子尺寸:381mm(15“)x 340mm(13”)| 行程:152毫米(6英寸)x 127毫米(5英寸) 现在可用 扩展 舞台选择 |
样品仓尺寸: | 高度:140mm(5.5"),宽度:310mm(12"),深度:340mm(13") |
外形尺寸: | 高度:450mm(18"),宽度:450mm(18"),深度:600mm(24") |