P系列

P系列 提供了测量各种样品尺寸,形状和数量的灵活性。 它配备了一个高精度可编程XY平台,可在一个固定阶段提供多种便利因素。 操作员可以使用鼠标和软件界面轻松移动到所需的测量位置。 可以创建多点程序,通过单击按钮自动测量多个样品位置。 精确控制可用于测试关键区域。 通过多点编程可以获得更大的采样量。

通常,XRF 的选择取决于我们的 P 系列——或者 L 系列。 性能和特点是一样的; 房间大小是他们不同的地方。 这 短片 可以帮助您决定哪种方法最适合您的测试要求。

标准配置包括一个 4 位置多准直器组件和一个用于在凹入区域进行测量的可变焦相机。 准直器和焦距可以根据应用进行定制。 包括一个 SDD 探测器,以及我们的长寿命微焦点 X 射线管。

P 系列专为测试大型 PCB 或平板而设计。 它提供 3 个样品台选项,具体取决于您的样品大小。 看看这个区别 短片.

有什么问题吗想要演示吗? 有兴趣以旧换新?

            P系列可满足以下类型用户的需求:

            • 小型镀件领域,如紧固件,连接器或PCB
            • 需要测试多个样品的多个位置
            • 期望在多个样品上实现自动化测量
            • 样品尺寸和应用经常变化
            • 保证符合 IPC-4552、4553、4554 和 4556
            • ASTM B568 和 ISO 3497
            • 渴望升级旧的XRF的性能和效率–并获得丰厚的以旧换新奖励!

            产品规格

            元素测量范围: 13号铝元素到92号铀元素
            X射线管: 50 W(50kV和1mA)微聚焦钨钯射线管
            探测器: 190eV及以上分辨率的Si-PIN固态探测器
            分析层数
            及元素数:
            5层(4层+基材) 每层可分析10种元素,成分分析最多可分析25种元素
            滤波器/准直器: 4位置一次滤波器/ 4种规格准直器
            焦距: 可变焦
            数字脉冲处理: 4096 多通道数字处理器,自动死时间和逃逸峰校正
            计算机: 英特尔, 酷睿 i5 3470 处理器 (3.2GHz), 8GB DDR3 内存, 微软 Windows 10 专业版, 64位
            相机: 1/4''(6mm)CMOS-1280×720 VGA分辨率
            视频放大倍率: 30X 微型和 7X 数字变焦:标准; 55X 微型:可选
            电源: 150W,100-240V,频率范围为47Hz至63Hz
            重量: 50kg
            马达控制/可编程XY平台 桌子尺寸:381mm(15“)x 340mm(13”)| 行程:152毫米(6英寸)x 127毫米(5英寸)
            延伸可编程XY平台: 桌子尺寸:635mm(25“)x 635mm(25”)| 行程:254毫米(10英寸)x 254(10英寸)
            现在可用 扩展 舞台选择
            样品仓尺寸: 高度:140mm(5.5"),宽度:310mm(12"),深度:340mm(13")
            外形尺寸: 高度:450毫米(18英寸),宽度:450毫米(18英寸),深度:600毫米(24英寸)

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