W系列微型XRF

W系列微型XRF 使用多毛细管光学器件将X射线束聚焦到7.5 µm FWHM,这是使用XRF技术进行涂层厚度分析的世界最小的光束尺寸。 这使其非常适合测量样品,例如BGA和较小的焊料凸点。 使用140倍放大倍率相机来测量该比例的特征; 它配有辅助的低倍率辅助相机,用于实时查看样本和鸟瞰宏观图像。 Bowman的双摄像头系统使操作员可以看到整个零件,单击图像以使用高磁摄像头进行缩放,然后精确定位要编程和测量的功能。

每个轴精确到小于+/-1μm的可编程XY平台用于选择和测量多个点; Bowman模式识别软件和自动对焦功能也可以自动执行此操作。 系统的3D映射功能可用于查看诸如硅晶片的部件上的涂层的形貌。

W系列仪器的标准配置包括7.5μm钼靶光学结构(可选铬和钨)和高分辨率、大窗口硅漂移探测器,该探测器每秒可处理超过2百万次计数。

W系列Micro XRF是Bowman XRF仪器套件中的第7个型号。 与产品组合中的其他产品一样,它可以同时测量多达5个涂层,并运行先进的Xralizer软件以从检测到的光子中量化涂层厚度。 Xralizer软件将直观的视觉控件与省时的快捷方式,广泛的搜索功能和“一键式”报告相结合。 该软件还简化了用户创建新应用程序的过程。

有什么问题吗想要演示吗? 有兴趣以旧换新?


            W系列Micro XRF是最理想的选择 公司:

            • 需要检测晶圆,引线框架,PCBs
            • 需要快速测量多个样品的多个点
            • 期望在多个样品上实现自动化测量
            • 需要符合 IPC-4552 A/B、4553A、4554 和 4556
            • ASTM B568,DIN 50987和ISO 3497
            • 渴望升级旧的XRF的性能和效率–并获得丰厚的以旧换新奖励!

            产品规格

            X射线管: 50W钼靶射线管 7.5um毛细管光学结构
            可选:Cr或W
            探测器: 优于135eV分辨率的大窗口硅漂移探测器
            输出焦深: 固定为0.08英寸(2.03毫米)
            工作环境: 温度介于68°F(20°C)与77°F(25°C)之间,相对湿度小于98%,无冷凝
            重量: 190kg(420lbs)
            可编程XYZ平台: XYZ行程:300毫米(11.8英寸)x 400毫米(15.7英寸)x 100毫米(3.9英寸)
            XY桌面:305mm(12“)x 406mm(16”)
            X轴准确度:2.5um(100u“); X轴精确度:1um(40u“)
            Y轴准确度:3um(120u“); Y轴精确度:1um(40u“)
            Z轴准确度:1.25um(50u“); Z轴精确度:1um(40u“)
            元素测量范围: 13号铝元素到92号铀元素
            分析能力: 5层(4层+基材)每层分析10种元素,
            成分分析最多可同时分析25种元素
            滤波器: 4位置一次滤波器
            数字脉冲处理: 4096 多通道数字处理器,自动死时间和逃逸峰校正
            处理器: 英特尔,酷睿i5 3470处理器(3.2GHz),8GB DDR3内存,
            微软 Windows 10专业版,64位
            相机: 1/4''(6mm)CMOS-1280×720 VGA分辨率
            视频放大倍率: 140X 微型、7X 数字变焦、9X 微距和表格视图
            电源: 150W,100〜240V; 频率范围为47Hz到63Hz
            尺寸(宽x深x高): 内部:914mm(36'')x 735mm(29'')x 100mm(4'')
            外形尺寸:940mm(37“)x 990mm(39”)x 787mm(31“)
            其他新特征: Z轴防撞阵列
            自动聚焦和自动镭射
            模式识别
            先进的自定义数据调用

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