每种工业和研究用途的涂层厚度测量

涂层厚度测量是将涂层电镀到金属零件上的制造商的要求,因为仪器可确保质量,精确的规格并节省开支。

Bowman涂层厚度测量仪器具有专有的检测技术和先进的软件,该软件使系统还可以确定样品中存在的元素。 我们的XRF仪器可同时测量多达五个涂层,所有涂层都可以是合金,也可以测量HEA(高熵涂层)。

通过微焦点相机对准X射线光学轴线选择样品的测试区域。 由聚焦激光控制的平台能容纳不同高度的样品。

Bowman XRF涂层测量系统符合行业对精度,可靠性和易用性的最严格要求。 紧凑,符合人体工程学的设计使分析便于每个应用 - 保证价格可以快速实现投资回报。

我们可以为您提供哪些帮助?

精度更高? 测量速度更快? 样品种类多变?

让我们来谈谈。

全系列产品满足用户不同的测量需求

  • G系列 珠宝业的过渡金属分析
  • B系列 小型电镀样品
  • P系列 “多面手”,适用于电子,常规电镀,贵金属
  • O系列 较大测量点的薄膜分析
  • M系列 采用µ-spot多导毛细管技术,分析极小测量点的薄膜
  • L系列 大型电镀样品
  • W系列 用于测量微电子领域的最小特征

 

智能化设计,强大的分析
  • 几秒内完成金属镀层无损分析
  • 成分分析最多可分析25种元素
  • 同时测量多达五个涂层,所有涂层都可以是合金
  • 基础参数法-半定量分析厚度与成分
  • 轻松设置和操作 - 一根USB完成连接
  • 简洁的前控制面板
  • 占地面积小
  • 轻量化设计,方便挪动
直观的用户界面
  • 提供分析灵活性,同时减少用户出错机会
  • 基于.Net框架 Xralizer 软件
  • 直观的图标引导用户界面
  • 强大的定性/无标样分析功能
  • 功能强大的标准片库
  • 可定制快捷键,方便操作
  • 灵活的数据显示和导出
  • 强大的报告编辑生成器
性能,强大,便利
  • 紧密耦合的几何设计极大提高测量效率和精度
  • 经验证的固态探测器可提供更高的分辨率,稳定性和灵敏度
  • 仪器预热时间短,X射线管灯丝寿命长
  • 可实现银、锡的L线薄膜分析
  • 多位置一次滤波器与多规格准直器可供选择
  • 灵活的焦距为复杂形状或厚度较大的样品提供测量便利
  • 模块化组件设计,维护简单

 

 

四个样本阶段选项

标准
固定基地

扩展可编程
XY基座

电动/可编程
XY基座

最大旅行延长
XY基座

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