电子元件不断小型化，因此解决特征尺寸减小问题至关重要。 这意味着 X 射线束必须足够小才能聚焦在非常小的区域。 Bowman 提供一系列准直器尺寸； 对于最小的组件，有多种多毛细管光学器件可供选择，范围为 7.5-80 µm FWHM。

Bowman 还提供一系列底盘和样品台尺寸 以适应各种零件尺寸和测试量。 我们的许多客户都使用非常小的零件，例如引脚连接器，并且还对每批零件测量多个样品。 通常，定制夹具会向 XRF 系统提供小样品。

所有 Bowman XRF 都允许创建、保存和调用多点程序，以自动测试多个零件。 可编程 XY 平台和内置模式识别软件使大批量测试变得高效且一致。

Bowman 系统仅使用硅漂移探测器 (SDD) 技术。 SDD 提供最佳分辨率、最低噪声水平（最高信噪比）、长期稳定性和最短测试时间。 他们还可以直接测量化学镀镍沉积物中的 %P。 与 Bowman 高度可靠的 X 射线管相结合，这种硬件组合是我们的台式 XRF 提供最佳全面性能和可靠性的关键原因。

电子元件测试要求各不相同，很难确定一种最有益的模型。 访问我们的 产品页面，用我们的 联系表格，或致电我们，我们的一位专家可以为您的测试环境和预算推荐最有利的仪器。