最近有几种新的PCB工艺可用，包括EPAG（化学钯/自动催化金）和EPIG（化学钯/浸金）。我敢肯定会有更多的工艺。 我们如何知道今天购买的XRF可以准确量化所有新的存款组合？
是的，许多PCB设计上对更厚的金的需求，以及出于多种原因而逐渐远离镍的趋势，已经带来了必将变得越来越普遍的新工艺。
所有Bowman台式XRF系统都可以精确测量周期表上从铝到铀的多达5个镀层。 Bowman光学和检测器技术非常适合您提到的特定过程-我们正在了解的其他过程正在开发中，并将在不久的将来首次亮相。
我们有德国的XRF系统，需要第二台仪器。 Bowman XRF的优点是什么？
与国外制造的设备相比，鲍曼系统具有重要的技术和服务相关优势！ Bowman XRF仪器具有较低的检测限和较短的测量时间。 它们由领先的软件提供支持，该软件结合了直观，可视化的控件以及省时的快捷方式，灵活的可搜索性以及业界唯一真正的一键式报告生成器。 Bowman XRF技术服务团队为每个台式XRF单元提供全面的当天服务响应。 （没有任何海外制造商可以开始履行这一承诺！）我们还帮助客户简化测试流程，并在更短的时间内生成所需的信息。 了解更多.
Bowman是否为Fischer系统提供支持？
Bowman拥有强大的本地服务网络，可支持每个客户地点的每个台式XRF测量系统，包括由Fischer，Hitachi / Oxford，Seiko和CMI制造的系统。 我们在服务，校准和维修方面提供全面的当天响应； 我们还为每种应用提供箔和电镀标准。 Bowman服务技术人员经常与客户合作，以简化他们的测试流程，并在更短的时间内生成所需的定性和定量信息。
Bowman XRF系统具有直观的SW界面，该界面将可视化控件与节省时间的快捷键，灵活的搜索功能以及业界唯一真正的“一键式”报告生成器相结合。 我们还有一个内置的可搜索数据库，可自动存储读数。 我们的Auto Focus HRS是另一个功能，该功能首先在O系列仪器上可用，目前正在推广到其他型号。 这种独特的功能可以完美聚焦在高反射性表面上，而激光或其他传统聚焦方法很难或不可能实现。
Bowman系统是“三合一” XRF，可提供厚度测量，元素分析和电镀液分析。 最后，通过将指定量的溶液倒入专用电池中来测量镀液。 Bowman系统可同时分析多达3个元素。
您可以安全地连续打开任何Bowman XRF装置。 如果您的设备的电源可用性有问题，您甚至可能要考虑使用不间断电源。 质量实验室中的所有有源仪器都将从中受益-无论是主要还是次要方式。 一个主要的优点是稳定性，在持续供电的情况下，稳定性将始终更高。 相对较小的优势的一个例子是仪表灯的预期寿命。
Bowman拥有强大的本地服务网络，可以支持每个客户位置的每个台式XRF系统，无论是Bowman还是Fischer，Hitachi / Oxford，Seiko或CMI制造的系统。 我们为所有XRF设备和应用提供应用咨询，仪器安装和操作员培训，服务与维修，以及铝箔和硬镀层标准。 XRF校准在Bowman的ISO / IEC 17025认可实验室中进行。
我们的现场合作伙伴涵盖了印第安纳波利斯，韦恩堡和埃文斯维尔（实际上是美国的每个主要城市！），并且可以让XRF专家来您的实验室，向您（和您的同事，如果您愿意）说明技术的工作原理， XRF系统等方面的差异。如果您有兴趣，请发送电子邮件至 sales@bowmanxrf.com.
P系列可测量最广泛的形状，样品大小和数量。 它配备了高精度的可编程XY工作台，在固定工作台上可提供多种便利性。 精确控制可用于测试关键区域，并且通过多点编程可以实现更大的采样量。
Bowman XRF 电镀测量系统符合 ASTM B568、DIN 50987 和 ISO 3497。对于我们的半导体、晶圆和 PCB 客户，Bowman 设备支持 IPC 4552 A/B。 Bowman 实验室通过了 ISO/IEC 17025 校准认证。
O系列将高性能与较小的X射线斑相结合。 标准配置包括80μm光学器件以及可处理高计数率的高分辨率SDD检测器。 与其他XRF相比，该相机具有更大的放大倍率，具有45x视频放大倍率和5x更高的数字变焦。
Bowman的M系列是用于最小X射线斑尺寸的终极XRF仪器，可将X射线束聚焦到15μmFWHM。 双摄像头系统使操作员可以看到整个零件，单击图像以使用高磁倍率摄像头放大，并查明要测量的特征。
多毛细管光学是一种聚焦技术，可替代许多XRF仪器中安装的准直仪组件。 在距光源相同距离的情况下，该系统的通量比准直系统高100倍以上。 多毛细管光学组件使来自管的几乎所有X射线都能到达样品，从而为测试非常小的组件或薄涂层提供了更高的灵敏度。
硅PIN二极管检测器提供的光谱分辨率优于道具计数器（一种常见的较旧技术），因此操作员可以测量更薄的沉积物和更低的元素浓度。 硅PIN检测器噪声低，具有出色的分辨率和检测极限。 硅漂移检测器（SDD）产生更高的计数率，并具有更高的光谱分辨率，通常比PIN二极管检测器高50％。 它们具有最低的基线噪声和最佳的检测极限。
XRF分析仪使用X射线荧光技术进行元素分析。 它们可用于测量金属镀层的厚度和元素组成。 XRD分析仪使用X射线衍射技术来测量晶体材料的原子和分子结构。 它们可用于根据其衍射图谱鉴定和表征化合物。
L系列腔室容积可容纳22“ x 24”，是同类产品中最大的。 大型样品台既可以测量大型零件，也可以测量容纳多个零件的大型样品夹具。
Bowman XRF分析仪使用X射线荧光技术进行材料厚度和成分分析。 X射线是电磁辐射的一种形式，其频率在紫外线和伽马射线之间。 X射线荧光与光电相互作用有关。 当发生光电相互作用时，电子从其轨道上被敲击，从而形成空位。 来自较高能量轨道的电子可以移动以填补该空位。 两个轨道之间的能量差作为荧光X射线释放。 来自每个元素的荧光X射线具有特征能量，称为特征X射线。
美国制造