一般疑难

最近有几种新的PCB工艺可用,包括EPAG(化学钯/自动催化金)和EPIG(化学钯/浸金)。我敢肯定会有更多的工艺。 我们如何知道今天购买的XRF可以准确量化所有新的存款组合?

是的,许多PCB设计上对更厚的金的需求,以及出于多种原因而逐渐远离镍的趋势,已经带来了必​​将变得越来越普遍的新工艺。

所有Bowman台式XRF系统都可以精确测量周期表上从铝到铀的多达5个镀层。 Bowman光学和检测器技术非常适合您提到的特定过程-我们正在了解的其他过程正在开发中,并将在不久的将来首次亮相。

我们有德国的XRF系统,需要第二台仪器。 Bowman XRF的优点是什么?

与国外制造的设备相比,鲍曼系统具有重要的技术和服务相关优势! Bowman XRF仪器具有较低的检测限和较短的测量时间。 它们由领先的软件提供支持,该软件结合了直观,可视化的控件以及省时的快捷方式,灵活的可搜索性以及业界唯一真正的一键式报告生成器。 Bowman XRF技术服务团队为每个台式XRF单元提供全面的当天服务响应。 (没有任何海外制造商可以开始履行这一承诺!)我们还帮助客户简化测试流程,并在更短的时间内生成所需的信息。 了解更多.

Bowman是否为Fischer系统提供支持?

Bowman拥有强大的本地服务网络,可支持每个客户地点的每个台式XRF测量系统,包括由Fischer,Hitachi / Oxford,Seiko和CMI制造的系统。 我们在服务,校准和维修方面提供全面的当天响应; 我们还为每种应用提供箔和电镀标准。 Bowman服务技术人员经常与客户合作,以​​简化他们的测试流程,并在更短的时间内生成所需的定性和定量信息。

Bowman XRF系统具有直观的SW界面,该界面将可视化控件与节省时间的快捷键,灵活的搜索功能以及业界唯一真正的“一键式”报告生成器相结合。 我们还有一个内置的可搜索数据库,可自动存储读数。 我们的Auto Focus HRS是另一个功能,该功能首先在O系列仪器上可用,目前正在推广到其他型号。 这种独特的功能可以完美聚焦在高反射性表面上,而激光或其他传统聚焦方法很难或不可能实现。

Bowman系统是“三合一” XRF,可提供厚度测量,元素分析和电镀液分析。 最后,通过将指定量的溶液倒入专用电池中来测量镀液。 Bowman系统可同时分析多达3个元素。

您可以安全地连续打开任何Bowman XRF装置。 如果您的设备的电源可用性有问题,您甚至可能要考虑使用不间断电源。 质量实验室中的所有有源仪器都将从中受益-无论是主要还是次要方式。 一个主要的优点是稳定性,在持续供电的情况下,稳定性将始终更高。 相对较小的优势的一个例子是仪表灯的预期寿命。

Bowman拥有强大的本地服务网络,可以支持每个客户位置的每个台式XRF系统,无论是Bowman还是Fischer,Hitachi / Oxford,Seiko或CMI制造的系统。 我们为所有XRF设备和应用提供应用咨询,仪器安装和操作员培训,服务与维修,以及铝箔和硬镀层标准。 XRF校准在Bowman的ISO / IEC 17025认可实验室中进行。

我们的现场合作伙伴涵盖了印第安纳波利斯,韦恩堡和埃文斯维尔(实际上是美国的每个主要城市!),并且可以让XRF专家来您的实验室,向您(和您的同事,如果您愿意)说明技术的工作原理, XRF系统等方面的差异。如果您有兴趣,请发送电子邮件至 <a href="mailto:info@bowmanxrf.cn">info@bowmanxrf.cn</a>.

P系列可测量最广泛的形状,样品大小和数量。 它配备了高精度的可编程XY工作台,在固定工作台上可提供多种便利性。 精确控制可用于测试关键区域,并且通过多点编程可以实现更大的采样量。

Bowman xrf涂层测量系统符合ASTM B568,DIN 50987和ISO 3497。 对于我们的PCB客户,Bowman设备具有IPC 4552功能。 此外,鲍曼实验室还通过了ISO / IEC 17025校准认证。

O系列将高性能与较小的X射线斑相结合。 标准配置包括80μm光学器件以及可处理高计数率的高分辨率SDD检测器。 与其他XRF相比,该相机具有更大的放大倍率,具有45x视频放大倍率和5x更高的数字变焦。

Bowman的M系列是用于最小X射线斑尺寸的终极XRF仪器,可将X射线束聚焦到15μmFWHM。 双摄像头系统使操作员可以看到整个零件,单击图像以使用高磁倍率摄像头放大,并查明要测量的特征。

多毛细管光学是一种聚焦技术,可替代许多XRF仪器中安装的准直仪组件。 在距光源相同距离的情况下,该系统的通量比准直系统高100倍以上。 多毛细管光学组件使来自管的几乎所有X射线都能到达样品,从而为测试非常小的组件或薄涂层提供了更高的灵敏度。

硅PIN二极管检测器提供的光谱分辨率优于道具计数器(一种常见的较旧技术),因此操作员可以测量更薄的沉积物和更低的元素浓度。 硅PIN检测器噪声低,具有出色的分辨率和检测极限。 硅漂移检测器(SDD)产生更高的计数率,并具有更高的光谱分辨率,通常比PIN二极管检测器高50%。 它们具有最低的基线噪声和最佳的检测极限。

XRF分析仪使用X射线荧光技术进行元素分析。 它们可用于测量金属镀层的厚度和元素组成。 XRD分析仪使用X射线衍射技术来测量晶体材料的原子和分子结构。 它们可用于根据其衍射图谱鉴定和表征化合物。

L系列腔室容积可容纳22“ x 24”,是同类产品中最大的。 大型样品台既可以测量大型零件,也可以测量容纳多个零件的大型样品夹具。

Bowman XRF分析仪使用X射线荧光技术进行材料厚度和成分分析。 X射线是电磁辐射的一种形式,其频率在紫外线和伽马射线之间。 X射线荧光与光电相互作用有关。 当发生光电相互作用时,电子从其轨道上被敲击,从而形成空位。 来自较高能量轨道的电子可以移动以填补该空位。 两个轨道之间的能量差作为荧光X射线释放。 来自每个元素的荧光X射线具有特征能量,称为特征X射线。

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