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Bowman XRF 系统为珠宝元素分析提供了一种快速、准确、无损的检测方法。 与火试金和 ICP 等耗时且具有破坏性的技术相比，XRF 在效率和易用性方面具有显著优势。

镀层分析对于确保适当防止腐蚀和失去光泽、提高耐用性和获得美观的表面效果至关重要。 它还可以防止过度镀层和昂贵贵金属的浪费。珠宝市场的另一个主要关注点是进行大块材料分析以确认纯度和真实性。Bowman 系统非常适合准确确定碱基成分，同时测量镀层厚度。所有仪器均标配固态硅漂移探测器 (SDD)，与比例计数器和硅针探测器相比，具有以下主要优势：

• 提高能量分辨率和灵敏度
• 能够分析轻元素（低至 13-Al）
• 薄涂层应用的高稳定性和准确性

此外，X 射线管和探测器的紧密耦合几何布局可提供三倍以上的计数，从而降低检测限并提高精度，同时缩短测量时间。结合 Bowman 最先进的 Archer 软件，该软件可以在单层测量多达 30 种元素，珠宝分析从未如此简单。

检验人员、制造商、陈列室和典当行都受益于 XRF 提供的快速、可靠的镀层厚度和基体合金成分分析。

请参阅我们的《金合金镀铑应用公告》以了解更多信息。