生产团队增加电子技术员

七月2022 – 工程经理 Robert Magyar 宣布聘请 Luis Almeida 担任电子技术员。 Almeida 曾是厄瓜多尔基多的 Escuela Politecnica Nacional (“EPN”) 大学的教授,该大学强调应用科学和工程的实验室教学。 在担任 Almeida 教授之前,他曾在奥黑尔国际机场从事交通电子领域的工作。


鲍曼在 SUR/FIN 展览

6月,2022 – 全球产品经理 Zach Dismukes 在 SUR-FIN 展示了一个重要的 Bowman XRF 独家产品:一个 AR/VR 程序,允许用户快速比较 XRF 系统和舞台选项,查看各种样本如何适应每个样本,并查看软件演示。


鲍曼扩大技术团队

6月,2022 – Brett Algrim 已加入 Bowman 总部团队,担任我们最新的标准实验室技术员/应用工程师。

Brett 带来了实验室管理和技术、气相色谱、红外光谱和 HPLC 以及统计方面的专业技能。 他拥有爱荷华州立大学的学士学位和有机化学硕士学位。


微型 XRF 测量晶圆、微电子产品中的最小特征

5月,2022 – Bowman 在其用于 PCB、半导体和微电子行业的精密 XRF 仪器套件中引入了重要的补充。

Bowman A 系列微型 XRF 可快速测量半导体和微电子产品的最小特征。 它可容纳非常大的 PCB 面板和任何尺寸的晶圆,以实现完整的样品覆盖和多点可编程自动化。

多毛细管光学器件将 X 射线束聚焦到 7.5 µm FWHM,这是用于 XRF 涂层厚度分析的世界上最小的。 一个 140 倍放大率的相机可以测量该比例的特征; 二级低放大倍率相机提供样品的实时查看和“鸟瞰”宏观成像。 Bowman 专有的双摄像头系统让操作员可以看到整个零件,单击图像以使用高倍率摄像头进行缩放,并快速识别感兴趣的特征。

可编程 XY 平台在每个方向上移动 23.6 英寸(600 毫米),可以处理业内最大的样品。 该平台的每轴精度低至 +/- 1 µm,用于选择和测量多个点; Bowman 模式识别软件和自动对焦功能也会自动执行此操作。 系统的3D测绘能力可用于查看ENIG、ENEPIG、EPIG等精英工艺的形貌。

A 系列仪器包括带有钼阳极管(铬和钨也可用)的 7.5 µm 光学器件和每秒处理超过 2 万个计数的高分辨率、大窗口硅漂移探测器 (SDD)。 SDD 是复杂薄膜的行业标准。 高计数率能力是实现低最低检测限 (MDL) 和最高光谱分辨率的关键。

A 系列系统的独特之处在于它们可用于洁净室,拥有市场上最大的半导体平台移动,并由全球范围内的服务网络提供支持,该服务网络可为每个台式 XRF 要求提供当日响应。 Bowman 仪器以及其他主要 XRF 品牌的用户可以进行设备评估、选择、调试、维护和现代化改造。



与自动化晶圆处理器结合的系列渲染

鲍曼在 JMAIIE 展出

二零一八年四月: – Quantum 所有者 DM Musale 和 Vaishali Dake-Musale(分别为左四和三)带领他们的销售和技术支持团队在亚洲最大的珠宝行业设备贸易盛会 JMAIIE 上成功展出。