SDD 提供最佳分辨率， 最低的噪声水平（最高的信噪比）、长期稳定性和最短的测试时间。 他们还直接测量化学镀镍沉积物中的 %P。 与 Bowman 高度可靠的 X 射线管相结合，这对硬件组合代表了我们提供的每个 XRF 系统的坚实核心。

无论您是测量 ENIG、ENEPIG、HASL、 化学镀镍、%P、RoHS 或其他 PCB 应用，Bowman 拥有满足您要求的完美解决方案。 凭借全系列的型号和硬件选项，我们的专家可以帮助您确定最适合您需求的型号。

两种最流行的 PCB 分析模型 是 P 和 B 系列系统。 P 系列包括一个多准直器组件，以适应各种垫尺寸、多个可编程 XY 载物台尺寸和行程范围。 B 系列是最实惠的选择，提供与 P 系列相同的测量性能，但没有可编程平台或多个准直器尺寸。

如果您的特征尺寸接近 100 µm 或更小， Bowman 提供多毛细管光学系统，该系统将非常小的 X 射线束尺寸与高通量水平结合在一起。 随着准直器尺寸的减小，X 射线的量（通量）也会随之减少。 这直接影响可重复性并增加了获得可接受结果所需的测试时间。 多毛细管光学器件为非常小的特征提供了最有效的解决方案，而 Bowman 提供的光束尺寸低至 7.5 µm FWHM，是业内最小的。