用于半导体/晶圆的XRF

Bowman 是世界一流的首要制造商, 美国制造 XRF 仪器用于 半导体应用

没有哪个行业比半导体设备发展得更多。 消费者对更小、更快、更便宜和更可靠的设备的需求需要不断重新设计。 Bowman 已经调整并完善了其战略以满足这些需求。

SDD检测器

直观、功能丰富的软件

软件界面是什么 允许操作员从 XRF 系统中获得最大收益。 操作员有多项任务要执行,在复杂的测试协议中挣扎不应减慢他们的速度。 Bowman 开发软件时考虑到了操作员——它使一切变得不同!

  • 业界最直观的用户界面。 它旨在最大限度地减少错误,它是图标驱动的,具有可自定义的快捷键,灵活的数据显示和输出,以及一键式报告生成器。
  • 无限制的全功能访问。 每个系统都标配了完整的软件套件。 它为创建新的应用程序或配方提供了无限的访问权限; 无需添加软件。
  • 涂层厚度、合金 ID 和溶液分析 所有 Bowman 系统都内置了这些功能,以最大限度地提高 XRF 的分析能力。 最多可测量 5 个涂层、任何层中的 30 种元素,甚至可以识别用于金属分选的合金等级。 电镀槽液分析 是一种无需稀释、消解或滴定即可快速测量浓度的方法。
  • 用于安全和有组织的报告的数据管理。 所有数据都会自动保存,并带有时间和日期戳。 数据存储在本地,可以手动或自动导出到网络文件夹、SECS/GEM 或 SPC 系统。 可定制的基于 Excel 的报告模板和可搜索的数据库允许轻松检索和呈现数据。
  • 激光自动对焦 是市场上最快的。 Z 轴在不到一秒的时间内达到焦点位置,防止操作员之间的样品错位。 此功能可应用于多点程序以动态调整翘曲。
  • 模式识别能力 确保以非常小的特征为中心的完美光束。 特征图像被存储并与载物台位置调整相匹配,从而实现具有精确测量位置的真正自动化编程。

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