仅使用高分辨率固态探测器
与其他市面上的X射线荧光光谱仪不同，Bowman所有X射线荧光光谱仪均采用高分辨率固态探测器。与传统的比例计数器技术相比，Bowman的固态探测器具有更高的分辨率，能够清晰分离重叠元素之间的峰形，无需使用二级滤光片。由于无需在每次测量时都使用二级滤光片，Bowman的测量时间显著缩短了一半。 此外，高分辨率固态探测器可提高稳定性，最大限度地减少因温度和湿度变化引起的漂移——这意味着客户可以信赖的高仪器稳定性，并减少重新校准 XRF 所需的时间。
鲍曼高分辨率固态探测器的优势包括：
- 每秒处理超过 2 万个计数，提高了最低检测限 (MDL) 和光谱分辨率。
- 能够测量复杂的多层涂层和厚度低至<20nm的超薄涂层。
- 将检测限提高到埃级或ppm级。
- 能够测量磷、硅、铝等轻元素。
卓越领先的XRF系统
Bowman XRF仪器在设计上具有许多优于其他品牌XRF仪器的硬件优势：
- 与同类设备相比，Bowman X射线管和探测器的近耦合几何布局可提供三倍以上的光子计数。这使得Bowman系统能够在更短的测量时间内实现更低的探测限和更高的精度。
- 采用业内最小的微光斑尺寸，7.5μm FWHM（半峰全宽）多毛细管光学元件，可测量最小的特征。
- 坚固耐用的微聚焦X射线，具有更高的稳定性和更长的使用寿命。
- 模块化组件设计，便于现场升级和维护，最大限度地减少停机时间。
先进的软件，直观的用户界面
它需要先进的设计......才能进行测试 。 Bowman XRF 涂层测量系统采用领先的软件，将直观的视觉控制与省时的快捷方式、灵活的自定义功能以及业内唯一真正的一键式报告生成器相结合。
- Bowman 将现代化的以视觉为中心的 UI 与优化的工作流程相结合，最大限度地减少了校准、分析和报告数据所需的点击次数。
- 我们独特的自动激光聚焦功能确保每一次测量都在正确的焦距下进行分析，从而获得准确且可重复的结果——无需操作员干预。
- 借助自动模式匹配、智能数据识别和每个测量点位置的可视化叠加，编程变得轻松便捷。
- 轻松自定义报告，一键即可打印！
- 或者通过与网络文件夹、ERP、SECS/GEM 或 SPC 系统集成自动导出。
- 功能丰富，且可根据用户进行自定义。支持无限数量的密码保护用户级别，并可对每个级别的用户权限进行精细控制。
定制选项无穷无尽。
广泛的镀层厚度测量范围
Bowman XRF仪器能够精确测量涂层厚度，
对从 Al 13 到 U 92 的多种元素进行元素分析。
“同类最佳”的服务支持
博曼为用户提供的 XRF技术支持和服务享誉业界。目前，除美国芝加哥总部外，博曼已在全球四大洲二十余个国家建立了办事处或机构。博曼始终致力于通过提供高质量的现场技术支持服务，从而成就用户。因此，博曼拥有较高的用户回头率。
“美国制造”
博曼是全美唯一一家集设计，研发和制造XRF镀层测量系统的领军制造商。值得注意的是，博曼是XRF系统的主要出口商，在中国，日本，韩国，印度，菲律宾，德国，意大利等海外市场也拥有广泛且忠实的用户群。
“美国制造”