XRF校准标准（或参考标准）是一种经过认证的参考物质，其厚度和/或成分已知。在校准过程中，这些标准可提供NIST溯源性，确保XRF校准结果可追溯至NIST。

X射线荧光光谱仪（XRF）的校准可分为两类：使用校准标准和不使用校准标准。顾名思义，无标校准是指在没有任何参考标准（校准标准）的情况下进行的校准。虽然许多XRF仪器可以通过无标校准进行镀层厚度测量，但这种方法无法溯源到任何国际认可的国家实验室，并且通常不如使用标准进行的校准准确。

加入校准标准不仅可以提高 XRF 测量的准确性，还可以作为测量仪器的质量检查手段。 您可以完全放心，您的XRF镀层厚度读数准确无误，且符合已知的良好值。 和 您可以定期读取校准标准，以监测 XRF 的稳定性和性能。

校准标准决定了读数的意义。 如果仪器使用错误的标准进行校准——错误的基材、错误的元件、错误的厚度范围——则会产生精确且可重复的读数，但是…… 错.

Bowman公司生产用于XRF校准的标准品。 所有品牌和型号的XRF仪器 通过我们的 ISO/IEC 17025认证实验室我们甚至可以对任何制造商的标准进行重新认证，而不仅仅是 Bowman 标准！

如何选择合适的校准标准

为了获得最精确的校准结果，所使用的标准品应与被分析零件/样品的电镀结构相匹配。确定所需标准品主要考虑三个方面，任何一个方面的错误都会影响测量结果：

• 涂层或层状结构： 标准件必须与被测材料的层结构完全一致——相同的涂层覆盖在相同的底层之上，底层又覆盖在相同的基材上。例如，如果您要测量的是镀金、镀镍、镀铜的层结构，就不应该使用镀金、镀黄铜的标准件（层结构和基材都不匹配）。
• 厚度范围： 校准标准件的厚度和成分值应与您的电镀规格相符。标准件应涵盖您电镀规格的上限和下限。
• 基材（或基础材料）： 标准样品的基材应与产品或样品的基材相同。基材不匹配会引入影响测量精度的因素。例如，使用 Ni/SS304 标准样品校准 Ni/Fe 标准样品会得出错误的 Ni 厚度读数，因为未正确考虑 304 基材中的镍含量。

何时需要校准标准

当电镀工艺有明确的规范时，使用标准方法并非可选项。 ENIG涂层的IPC-4552证明仪器性能需要进行针对特定对象的 1 型量规研究。 可追溯的 参考标准值应在规定的范围内。无标样的1型量具研究仅测量重复性，无法评估精度。

IPC-4552B 在这方面比大多数规范更进一步：它明确规定了所需的可追溯性、层结构以及标准必须具备的、适用于您所用铜厚度的特定厚度组合。 符合 IPC-4552B ENIG 标准的 XRF 校准标准.

所有XRF仪器的标准，不仅限于我们公司的标准。

Bowman的标准样品适用于所有品牌和型号的XRF仪器。实验室很少只使用单一供应商的设备，即使是十年前从单一供应商购买XRF仪器的电镀厂，如今仍然需要可溯源的标准样品。无论仪器上印的是哪个供应商的品牌，测量结果的准确性都取决于其所依据的参考标准。

我们的标准品由 Bowman 的 ISO/IEC 17025 认证实验室生产，所有校准标准品均附带证书，以支持客户审核。

常见问题

标准品应该多久重新认证一次？校准标准品和检验标准品有什么区别？标准品出现划痕或污染会发生什么情况？这些问题以及其他相关问题都可以在以下方面找到答案： XRF 标准常见问题解答.