測量奈米級薄 PVD 塗層
物理氣相沉積 (PVD) 是一種用於將材料薄膜塗覆到表面的常用技術。
這些塗層具有許多優點：增強耐磨性、耐腐蝕性和耐熱性、增加硬度、改善美觀——僅舉幾例。該過程涉及在真空中蒸發固體材料，然後將該蒸氣沉積到基材表面上。基材可以包括金屬、塑膠、玻璃、陶瓷等。透過濺射，高能量離子轟擊並噴射靶材料，然後沉積到基板上形成薄膜。蒸發以類似的方式工作。目標材料在真空中蒸發，導致粒子行進並凝結在基板上。
PVD 用途廣泛。 該技術可用於大量有機和無機材料，並且在許多情況下可以提供比傳統電鍍工藝更硬、更耐腐蝕的塗層。因此，包括汽車、航空航太、電子和醫療設備在內的許多行業都依賴 PVD。與任何類型的塗層一樣，必須監控沉積厚度，以確保獲得塗層的全部優點，同時最大限度地減少材料浪費。 AMS 2444A 等規範概述了這些優點，並為透過 PVD 塗層實現所需性能提供了指導。
AMS 2444A 給出了透過 PVD 在金屬部件上塗覆氮化鈦塗層的規範。 塗層依厚度分為三類：1.27-3.81μm厚、2.54-6.10μm厚和6.35-12.70μm厚。每個類別都提供與摩擦和潤滑性、耐磨性、外觀等相關的獨特性能。 。因此，密切監測沉積厚度至關重要。
XRF 提供了一種快速、無損的方法來分析 PVD 塗層厚度。 每個 Bowman 裝置能夠同時測量多達 5 個厚度層。此外，PVD 塗層應用通常需要奈米級塗層厚度以獲得所需的安全性/保護，同時避免浪費昂貴的材料。上一代 XRF 儀器依賴充氣比例檢測器，該檢測器無法為薄塗層以及鋁或鈦等低能量材料塗層提供可靠、準確的讀數。 所有 Bowman XRF 均配備固態矽漂移探測器 (SDD)，以精確測量 PVD。 SDD 的最新探測器開發——矽漂移探測器——提供最佳解析度、最低噪音水平（最高信噪比）和最短測試時間，同時提供準確可靠的結果。
美國製造