XRF的優點

XRF對金屬元素最為敏感，特別是元素週期表上Ti-U的元素。對於塗層厚度分析，XRF可以應用於任何金屬或非金屬基材上的單層或多層金屬塗層。

對於合金分析，XRF可以確定每個合金元素的％組成，甚至可以確定合金等級號。對於溶液分析，溶液中的金屬離子可以在電鍍槽中進行定量以進行過程控制。


Bowman系統主要優點包括：

  • 無損檢測，樣品製備最少
  • 快速分析 - 期望在幾秒鐘內有分析數據
  • 廉價操作：無需專門科學家即可由新手操作
  • 通用技術可以測量不同類型的基質樣品
  • 大樣本的微特徵的小點分析
  • 同時分析大部分金屬元素
  • 通過各種工業驗證測試認可的方法

XRF檢測器技術

解釋並比較了X射線熒光儀器中使用的不同檢測器技術。

氣體計數器檢測器

  • 高雜訊
  • 分辨率差
  • 不穩定與溫濕度變化
  • 需要頻繁重新校準

SiPIN半導體檢測器

  • 低雜訊
  • 分辨率佳
  • 檢測極限佳
  • 佩爾捷效應冷卻：非常穩定 - 無氣候影響

矽漂移檢測器（SDD）

  • 最低雜訊
  • 最高計數檢測
  • 最佳分辨率
  • 最佳檢測極限
  • 最廣泛的元素最大的通用性
  • 佩爾捷效應冷卻：非常穩定 - 無氣候影響

所有 Bowman XRF 儀器都使用矽漂移探測器，以實現最高分辨率、最低噪聲水平和最大的整體穩定性。

這確保了能夠達成最精確的塗層厚度測量和元素分析。