K系列 是為處理各種樣品的品質部門所開發的。此準直系統在高度高達 12 英吋（305 毫米）的零件上具有領先的 12 英吋（305 毫米）x 8.75 英吋（222 毫米）可測量區域。自動多準直器可選擇光點尺寸以適應各種特徵尺寸；可變相機可在 0.25 吋至 3.5 吋（6.35 公釐至 89 公釐）的焦距範圍內進行測量。
伺服馬達驅動的可程式平台可實現快速、精確的可編程樣品定位。懸臂門設計使操作員可以輕鬆放置樣品。可用的表格視圖功能可對整個可測量區域進行成像，並允許操作員只需單擊即可導航到任何位置。可選的內建操縱桿可讓操作員從系統的控制面板移動 XY 平台，而無需軟體介入。
標準 K 系列準直配置包括 4 位元（4,8,12、24、0.1 和 0.2 mil / 0.3、0.6、2 和 2 mm）多準直器；可選尺寸為 0.05x0.05mil (60 x 1.5 mm) 至 400mil (10.2mm)。可變焦便於在凹陷區域進行測量。可程式平台允許使用可選的 XYZ 程式進行零件測量，精度低至 XNUMXμin (XNUMXμm)。程式可以使用模式匹配和自動對焦來確保精確的測量。與所有 Bowman XRF 系統一樣，K 系列配備標準矽漂移探測器 (SDD) 和長壽命微焦點 X 射線管。
K 系列 XRF 符合 ASTM B568、ISO 3497 和 IPC-4552 標準。
K系列 現在可用作多毛細管光學系統，用於分析極小的特徵。 標準光學配置包括 15μm FWHM 光學元件和高解析度 LSDD 偵測器，以處理更高的計數率。升級後的精密可程式 XY 樣品台可提供更好的工作台精度，低至 80μin (2μm) 以下，這是確保小特徵尺寸精確測量的必要條件。為了測量該規模的特徵，配備了具有更高數位變焦的 140 倍高放大倍率相機。這些相機與輔助低放大倍率相機一起工作，使用戶能夠以鳥瞰圖查看整個零件，並透過點擊和指向自動將特徵置於高放大倍率視圖下。光學系統的焦距很近，因此用 K 系列測量的樣品必須是平的。
有什麼問題嗎想要演示嗎？ 有興趣以舊換新？
K 系列 XRF 最適合有以下要求的客戶：
- 保證符合 IPC-4552、4553、4554 和 4556
- 卓越的人體工學設計：輕鬆存取、可程式載物台、活躍的行程
- 符合 ASTM B568 和 ISO 3497 標準
- 準直系統的 RoHS 功能
產品規格
| 元素範圍： | 鋁(13)到鈾(92) |
| X射線激發： | 50 W（50kV 和 1mA）微聚焦 W 陽極管（可提供 Cr、Mo、Rh 陽極） |
| 檢測器： | 準直：矽固態探測器，解析度為 190eV 或更高 光學元件：大窗口矽固態探測器，解析度為 190eV 或更高 |
| 分析數量 圖層和元素： |
5 層（4 層 + 基礎），每層 10 個元素。 同時分析多達 30 種元素的成分 |
| 過濾器/準直儀： | 準直：4 個初級過濾器/4 個電動準直器 光學元件：4 個初級濾光片 |
| 焦點深度： | 準直：具有雷射和影像自動對焦功能的多個固定焦深 光學元件：輸出焦深固定為 0.15 吋（3.81 公釐） |
| 數字脈衝處理： | 4096 CH 數位多通道分析儀，整形時間靈活。 自動訊號處理，包括死區時間校正和逃逸峰值校正 |
| 計算機： | 英特爾酷睿 i5 第 9 代。桌上型電腦處理器、固態硬碟、16GB RAM、Microsoft Windows 11 Professional 64 位元等效版本 |
| 相機光學： | 2x 1/3″ CMOS- 2688×1520 分辨率 |
| 視頻放大： | 準直：30 倍微距和 7 倍數位變焦：標準； 55X微型可選；可選的表格視圖 光學：140X 微距、7X 數位變焦、9X 微距和桌面視圖 |
| 電源： | 480W，100〜240伏特; 頻率範圍47Hz到63Hz |
| 重量： | 270 磅/120 公斤 |
| 可編程XY： | 工作台尺寸：12 吋（305 公釐）x 12 吋（305 公釐） XY 行程：12 英吋（305 毫米）x 12 英吋（305 毫米） 準直：載物台精度：10.2um (400uin) 光學：載物台精度：<2um (80uin) |
| 內部尺寸： | 高度：229mm (9″)，寬度：610mm (24″)，深度：610mm (24″) 準直：最大 Z 行程：8.75″ 光學元件：最大Z軸行程：8.5英寸 |
| 外部尺寸： | 高度：668mm (26.3″)，寬度：711mm (28.0″)，深度：922mm (36.3″) |
美國製造