K系列 是為處理各種樣品的品質部門所開發的。 它在高度高達 12 英寸（304 毫米）的零件上具有領先的 12 英寸（304 毫米）x 9 英寸（228 毫米）可測量區域。 自動多準直器可選擇光點尺寸以適應各種特徵尺寸； 可變相機允許在 25 吋至 3.5 吋的焦距範圍內進行測量。
伺服馬達驅動的可程式平台可實現快速、精確的可編程樣品定位。 懸臂門設計使操作員可以輕鬆放置樣品。 可用的表格視圖功能可對整個可測量區域進行成像，並允許操作員只需單擊即可導航到任何位置。 可用的內建操縱桿使操作員可以從系統的控制面板移動 XY 平台，無需軟體幹預。
標準 K 系列配置包括 4 位元（4,8,12、24、2 和 2 mil）多準直器； 可選尺寸為 60xXNUMXmil 至 XNUMXmil。 可變焦便於在凹陷區域進行測量。 伺服馬達驅動的可程式平台允許使用可選的 XYZ 程式進行零件測量。 程式可以使用模式匹配和自動對焦來確保精確的測量。 與所有 Bowman XRF 系統一樣，K 系列配備標準矽漂移探測器 (SDD) 和長壽命微焦點 X 射線管。
K 系列 XRF 符合 ASTM B568、ISO 3497 和 IPC-4552 標準。
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K 系列 XRF 最適合有以下要求的客戶：
- 保證符合 IPC-4552、4553、4554 和 4556
- 卓越的人體工學設計：輕鬆存取、可程式載物台、活躍的行程
- 符合 ASTM B568 和 ISO 3497 標準
- RoHS 能力
產品規格
| 元素範圍： | 鋁(13)到鈾(92) |
| X射線激發： | 50 W（50kV 和 1mA）微聚焦 W 陽極管（可提供 Cr、Mo、Rh 陽極） |
| 檢測器： | 具有小於190eV分辨率的矽固態檢測器 |
| 分析數量 圖層和元素： |
5 層（4 層 + 基礎），每層 10 個元素。 同時分析多達 30 種元素的成分 |
| 過濾器/準直儀： | 4主要過濾器/ 4機動准直器 |
| 焦點深度： | 具有雷射和影像自動對焦功能的多個固定焦深 |
| 數字脈衝處理： | 4096 CH 數位多通道分析儀，整形時間靈活。 自動訊號處理，包括死區時間校正和逃逸峰值校正 |
| 計算機： | Microsoft Windows 10/11 Prof，64 位元等效版本 |
| 相機光學： | 2x 1/3″ CMOS- 2688×1520 分辨率 |
| 視頻放大： | 30 倍微距和 7 倍數位變焦：標準； 55X微型可選 |
| 電源： | 480W，100〜240伏特; 頻率範圍47Hz到63Hz |
| 重量： | 270 磅/120 公斤 |
| 可編程XY： | 工作台尺寸：12 吋（304 公釐）x 12 吋（304 公釐） XY 行程：12 英吋（304 毫米）x 12 英吋（304 毫米） |
| 內部尺寸： | 高度：609mm (24″)，寬度：609mm (24″)，深度：228mm (9″) |
| 外部尺寸： | 高度：712mm（28“），寬度：928mm（36.5”），深度：674mm（26.5“） |
美國製造