O系列 結合了高性能和小的X射線光斑尺寸。 多毛細管聚焦光學系統可以取代標準Bowman系統中安裝的准直儀組件，從而實現這一目標。 光學器件旨在將來自管出口窗口的X射線聚焦到非常小的光斑尺寸（80μmFWHM），同時保留幾乎100％的管通量。 因此，與准直儀系統一樣，多毛細管光學組件不會衰減無法穿過小孔的X射線，而是允許幾乎所有來自管的X射線到達樣品。 結果對於測試非常小的組件或薄塗層的靈敏度更高。 比較光學系統和類似尺寸的准直儀時，較短的測試時間可以實現更好的可重複性。
標準配置包括 80μm 光學器件，以及可以處理更高計數率的高分辨率 SDD 檢測器。 與其他型號相比，相機具有更大的放大倍率，例如 P系列，具有 55 倍的視頻放大率和 7 倍的數碼變焦。 可編程 XY 樣品台也是標準配置。 光學系統的焦距非常近，因此 O 系列樣品必須是平的。
現在提供擴展階段選項
應用性能
| ENEPIG | 無電解鎳 | ||||
|---|---|---|---|---|---|
| 微米金 | 微米鈀 | 微米鎳 | 微米NiP | 微米％P | |
| 平均 | 0.043 | 0.08 | 3.72 | 10.202 | 10.17 |
| 標準差 | 0.0005 | 0.0009 | 0.00010 | 0.1089 | 0.29 |
| 範圍 | 0.0015 | 0.0030 | 0.040 | 0.3863 | 0.9900 |
| ％RSD | 1.05% | 1.13% | 0.03% | 1.07% | 2.85% |
有什麼問題嗎想要演示嗎？ 有興趣以舊換新？
O系列XRF最適用以下需求的客戶：
- 非常小的零件/測點，如半導體、連接器或PCB
- 要求測試每批新材料的許多樣品或測點
- 需要測量非常薄的塗層（<100nm）
- 非常短的測量時間（1-5秒）
- 保證符合 IPC-4552、4553A、4554 和 4556
- ASTM B568 和 ISO 3497
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產品規格
| X射線激發： | 50 W W 目標，附毛細管光學元件 @80um FWHM，17 KeV |
| 檢測器： | 大窗口矽漂移探測器190eV分辨率或更好 |
| 分析數量 圖層和元素： |
5層 (4層 + 底材) 及10種元素在不同層以及可同時分析高達30種元素成份 |
| 過濾器/準直儀： | 4主要過濾器 |
| 輸出焦深： | 固定為0.1英寸（2.54mm） |
| 數字脈衝處理： | 4096 CH數字多通道分析儀，靈活的整形時間自動信號處理，包括死區時間校正和逃逸峰值校正 |
| 計算機： | 英特爾酷睿 i5 第 9 代。桌上型電腦處理器、固態硬碟、16GB RAM、Microsoft Windows 11 Professional 64 位元等效版本 |
| 相機光學： | 1/4''（6mm）CMOS-1280×720 VGA分辨率 |
| 視頻放大： | 55X Micro 7X 數碼變焦 |
| 電源： | 150瓦, 100~240 伏特, 47Hz 到 63Hz的頻率範圍 |
| 工作環境： | 68°F（20℃）至77°F（25℃）和高達98％RH，無冷凝 |
| 重量： | 52 70kg |
| 可編程XY： | 桌子尺寸：330毫米（13吋）x 381毫米（15吋）|行程：127毫米（5吋）x 152毫米（6吋） 現在可用 可選 擴展階段或封閉室 |
| 內部尺寸： | 高度：140mm (5.5″)，寬度：305mm (12″)，深度：330mm (13″) |
| 外部尺寸： | 高度：457mm (18″)，寬度：457mm (18″)，深度：610mm (24″) |
美國製造