O系列 結合了高性能和小的X射線光斑尺寸。 多毛細管聚焦光學系統可以取代標準Bowman系統中安裝的准直儀組件，從而實現這一目標。 光學器件旨在將來自管出口窗口的X射線聚焦到非常小的光斑尺寸（80μmFWHM），同時保留幾乎100％的管通量。 因此，與准直儀系統一樣，多毛細管光學組件不會衰減無法穿過小孔的X射線，而是允許幾乎所有來自管的X射線到達樣品。 結果對於測試非常小的組件或薄塗層的靈敏度更高。 比較光學系統和類似尺寸的准直儀時，較短的測試時間可以實現更好的可重複性。
標準配置包括 80μm 光學器件，以及可以處理更高計數率的高分辨率 SDD 檢測器。 與其他型號相比，相機具有更大的放大倍率，例如 P系列，具有 55 倍的視頻放大率和 7 倍的數碼變焦。 可編程 XY 樣品台也是標準配置。 光學系統的焦距非常近，因此 O 系列樣品必須是平的。
現在提供擴展階段選項
應用性能
| ENEPIG | 無電解鎳 | ||||
|---|---|---|---|---|---|
| 微米金 | 微米鈀 | 微米鎳 | 微米NiP | 微米％P | |
| 平均 | 0.043 | 0.08 | 3.72 | 10.202 | 10.17 |
| 標準差 | 0.0005 | 0.0009 | 0.00010 | 0.1089 | 0.29 |
| 範圍 | 0.0015 | 0.0030 | 0.040 | 0.3863 | 0.9900 |
| ％RSD | 企業排放佔全球 1.05% | 企業排放佔全球 1.13% | 企業排放佔全球 0.03% | 企業排放佔全球 1.07% | 企業排放佔全球 2.85% |
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O系列XRF最適用以下需求的客戶：
- 非常小的零件/測點，如半導體、連接器或PCB
- 要求測試每批新材料的許多樣品或測點
- 需要測量非常薄的塗層（<100nm）
- 非常短的測量時間（1-5秒）
- 保證符合 IPC-4552、4553A、4554 和 4556
- ASTM B568 和 ISO 3497
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產品規格
| X射線激發： | 50 W Mo 靶，帶毛細管光學器件 @80um FWHM，17 KeV |
| 檢測器： | 矽漂移探測器135eV分辨率 |
| 分析數量 圖層和元素： |
5層 (4層 + 底材) 及10種元素在不同層以及可同時分析高達25種元素成份 |
| 過濾器/準直儀： | 2主要過濾器 |
| 輸出焦深： | 固定為0.1英寸（2.54mm） |
| 數字脈衝處理： | 4096 CH數字多通道分析儀，靈活的整形時間自動信號處理，包括死區時間校正和逃逸峰值校正 |
| 計算機： | Intel, CORE i5 3470 處理器 3.2GHz, 8GB DDR3記憶體, 微軟 Windows 10 專業版 64位元作業系統 |
| 相機光學： | 1/4英寸（6毫米）CMOS-1280×720 VGA分辨率，雙攝像頭為250倍，單攝像頭為45倍，屏幕為15英寸 |
| 視頻放大： | 55X Micro 7X 數碼變焦 |
| 電源： | 150瓦, 100~240 伏特, 47Hz 到 63Hz的頻率範圍 |
| 工作環境： | 68°F（20℃）至77°F（25℃）和高達98％RH，無冷凝 |
| 重量： | 53kg |
| 可編程XY： | 工作台尺寸：381毫米（15英寸）x 340毫米（13英寸）| 行程：152毫米（6英寸）x 127毫米（5英寸） 現在可用 擴展 舞台選擇 |
| 內部尺寸： | 高度：140mm (5.5″)，寬度：310mm (12″)，深度：340mm (13″) |
| 外部尺寸： | 高度：450mm（18“），寬度：450mm（18”），深度：600mm（24“） |
美國製造