電子元件不斷小型化，因此解決特徵尺寸減小問題至關重要。 這意味著 X 射線束必須足夠小才能聚焦在非常小的區域。 Bowman 提供一系列准直器尺寸； 對於最小的組件，有多種多毛細管光學器件可供選擇，範圍為 7.5-80 µm FWHM。

Bowman 還提供一系列底盤和样品台尺寸 以適應各種零件尺寸和測試量。 我們的許多客戶都使用非常小的零件，例如引腳連接器，並且還對每批零件測量多個樣品。 通常，定制夾具會向 XRF 系統提供小樣品。

所有 Bowman XRF 都允許創建、保存和調用多點程序，以自動測試多個零件。 可編程 XY 平台和內置模式識別軟件使大批量測試變得高效且一致。

Bowman 系統僅使用矽漂移探測器 (SDD) 技術。 SDD 提供最佳分辨率、最低噪聲水平（最高信噪比）、長期穩定性和最短測試時間。 他們還可以直接測量化學鍍鎳沉積物中的 %P。 與 Bowman 高度可靠的 X 射線管相結合，這種硬件組合是我們的台式 XRF 提供最佳全面性能和可靠性的關鍵原因。

電子元件測試要求各不相同，很難確定一種最有益的模型。 訪問我們的 產品頁面，用我們的 聯繫表格，或致電我們，我們的一位專家可以為您的測試環境和預算推薦最有利的儀器。