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Bowman XRF 系統為珠寶元素分析提供了快速、準確、無損的測試方法。 與火試金和 ICP 等耗時且具破壞性的技術相比，XRF 在效率和易用性方面具有顯著優勢。

鍍層分析對於確保適當的防腐蝕和變色、提高耐用性和實現美觀的表面至關重要。 它還可以防止過度電鍍和浪費昂貴的貴金屬。珠寶市場的另一個主要問題是用於純度和真實性確認的散裝材料分析。 Bowman 系統非常適合準確地確定基礎成分，同時測量電鍍層的厚度。所有儀器均標配固態矽漂移偵測器 (SDD)，與正比計數器和矽針偵測器相比具有主要優勢：

• 提高能量解析度和靈敏度
• 能夠分析輕元素（低至 13-Al）
• 薄塗層應用的高穩定性和準確性

此外，X 射線管和偵測器的緊密耦合幾何佈局可提供三倍以上的計數，從而降低檢測極限並提高精度並縮短測量時間。結合 Bowman 最先進的 Archer 軟體（可在單層中測量多達 30 種元素），珠寶分析變得前所未有的簡單。

檢測機構、製造商、陳列室和當鋪都受益於 XRF 提供的快速、可靠的鍍層厚度和基礎合金成分分析。

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