鮑曼在 SUR/FIN 展覽

6月,2022 – 全球產品經理 Zach Dismukes 在 SUR-FIN 展示了一個重要的 Bowman XRF 獨家產品:一個 AR/VR 程序,允許用戶快速比較 XRF 系統和舞台選項,查看各種樣本如何適應每個樣本,並查看軟件演示。


鮑曼擴大技術團隊

6月,2022 – Brett Algrim 已加入 Bowman 總部團隊,擔任我們最新的標準實驗室技術員/應用工程師。

Brett 帶來了實驗室管理和技術、氣相色譜、紅外光譜和 HPLC 以及統計方面的專業技能。 他擁有愛荷華州立大學的學士學位和有機化學碩士學位。


微型 XRF 測量晶圓、微電子產品中的最小特徵

5月,2022 – Bowman 在其用於 PCB、半導體和微電子行業的精密 XRF 儀器套件中引入了重要的補充。

Bowman A 系列微型 XRF 可快速測量半導體和微電子產品的最小特徵。 它可容納非常大的 PCB 面板和任何尺寸的晶圓,以實現完整的樣品覆蓋和多點可編程自動化。

多毛細管光學器件將 X 射線束聚焦到 7.5 µm FWHM,這是用於 XRF 塗層厚度分析的世界上最小的。 一個 140 倍放大率的相機可以測量該比例的特徵; 二級低放大倍率相機提供樣品的實時查看和“鳥瞰”宏觀成像。 Bowman 專有的雙攝像頭系統讓操作員可以看到整個零件,單擊圖像以使用高倍率攝像頭進行縮放,并快速識別感興趣的特徵。

可編程 XY 平台在每個方向上移動 23.6 英寸(600 毫米),可以處理業內最大的樣品。 該平台的每軸精度低至 +/- 1 µm,用於選擇和測量多個點; Bowman 模式識別軟件和自動對焦功能也會自動執行此操作。 系統的3D測繪能力可用於查看ENIG、ENEPIG、EPIG等精英工藝的形貌。

A 系列儀器包括帶有鉬陽極管(鉻和鎢也可用)的 7.5 µm 光學器件和每秒處理超過 2 萬個計數的高分辨率、大窗口矽漂移探測器 (SDD)。 SDD 是複雜薄膜的行業標準。 高計數率能力是實現低最低檢測限 (MDL) 和最高光譜分辨率的關鍵。

A 系列系統的獨特之處在於它們可用於潔淨室,擁有市場上最大的半導體平台移動,並在全球範圍內得到服務網絡的支持,該服務網絡可為每個台式 XRF 要求提供當日響應。 Bowman 儀器以及其他主要 XRF 品牌的用戶可以進行設備評估、選擇、調試、維護和現代化改造。



與自動化晶圓處理器結合的系列渲染

鮑曼在 JMAIIE 展出

4月,2022 – Quantum 所有者 DM Musale 和 Vaishali Dake-Musale(分別為左四和三)帶領他們的銷售和技術支持團隊在亞洲最大的珠寶行業設備貿易盛會 JMAIIE 上成功展出。

研究使用 Bowman 的 P 系列 XRF 系統

3月,2022 – 與材料科學相關的各種主題的實驗和發表的文章經常使用 Bowman XRF 系統進行精確的鍍層厚度測量和鍍液分析。

最近,一項名為 “基於甲磺酸電解質的裝飾性鍍銅酸浴中硫脲濃度的優化” 使用 Bowman P 系列 XRF 系統。 與所有 Bowman XRF 儀器一樣,P 系列使用固態檢測器以獲得最高分辨率、低基線噪聲和高整體穩定性。 該研究發表於 塗料,由 MDPI 每月出版的塗料和表面工程同行評審期刊。

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