新聞：XRF電鍍測量系統，在線XRF，標準

鮑曼在 SUR/FIN 展覽

6月，2022 – 全球產品經理 Zach Dismukes 在 SUR-FIN 展示了一個重要的 Bowman XRF 獨家產品：一個 AR/VR 程序，允許用戶快速比較 XRF 系統和舞台選項，查看各種樣本如何適應每個樣本，並查看軟件演示。

鮑曼擴大技術團隊

6月，2022 – Brett Algrim 已加入 Bowman 總部團隊，擔任我們最新的標準實驗室技術員/應用工程師。

Brett 帶來了實驗室管理和技術、氣相色譜、紅外光譜和 HPLC 以及統計方面的專業技能。他擁有愛荷華州立大學的學士學位和有機化學碩士學位。

微型 XRF 測量晶圓、微電子產品中的最小特徵

5月，2022 – Bowman 在其用於 PCB、半導體和微電子行業的精密 XRF 儀器套件中引入了重要的補充。

Bowman A 系列微型 XRF 可快速測量半導體和微電子產品的最小特徵。它可容納非常大的 PCB 面板和任何尺寸的晶圓，以實現完整的樣品覆蓋和多點可編程自動化。

多毛細管光學器件將 X 射線束聚焦到 7.5 µm FWHM，這是用於 XRF 塗層厚度分析的世界上最小的。一個 140 倍放大率的相機可以測量該比例的特徵；二級低放大倍率相機提供樣品的實時查看和“鳥瞰”宏觀成像。 Bowman 專有的雙攝像頭系統讓操作員可以看到整個零件，單擊圖像以使用高倍率攝像頭進行縮放，并快速識別感興趣的特徵。

可編程 XY 平台在每個方向上移動 23.6 英寸（600 毫米），可以處理業內最大的樣品。該平台的每軸精度低至 +/- 1 µm，用於選擇和測量多個點； Bowman 模式識別軟件和自動對焦功能也會自動執行此操作。系統的3D測繪能力可用於查看ENIG、ENEPIG、EPIG等精英工藝的形貌。

A 系列儀器包括帶有鉬陽極管（鉻和鎢也可用）的 7.5 µm 光學器件和每秒處理超過 2 萬個計數的高分辨率、大窗口矽漂移探測器 (SDD)。 SDD 是複雜薄膜的行業標準。高計數率能力是實現低最低檢測限 (MDL) 和最高光譜分辨率的關鍵。

A 系列系統的獨特之處在於它們可用於潔淨室，擁有市場上最大的半導體平台移動，並在全球範圍內得到服務網絡的支持，該服務網絡可為每個台式 XRF 要求提供當日響應。 Bowman 儀器以及其他主要 XRF 品牌的用戶可以進行設備評估、選擇、調試、維護和現代化改造。