SDD 提供最佳分辨率， 最低的噪音水準（最高的信噪比）、長期穩定性和最短的測試時間。 他們還直接測量化學鍍鎳沉積物中的 %P。 與 Bowman 高度可靠的 X 射線管相結合，這對硬體組合代表了我們提供的每個 XRF 系統的堅實核心。

無論您是測量 ENIG、ENEPIG、HASL、 化學鍍鎳、%P、RoHS 或其他 PCB 應用，Bowman 擁有滿足您要求的完美解決方案。 憑藉全系列的型號和硬體選項，我們的專家可以幫助您確定最適合您需求的型號。

兩種最流行的 PCB 分析模型 是 P 和 B 系列系統。 P 系列包括一個多准直器組件，以適應各種墊尺寸、多個可編程 XY 載物台尺寸和行程範圍。 B 系列是最實惠的選擇，提供與 P 系列相同的測量性能，但沒有可編程平台或多個准直器尺寸。

如果您的特徵尺寸接近 100 µm 或更小， Bowman 提供多毛細管光學系統，該系統將非常小的 X 射線束尺寸與高通量水平結合在一起。 隨著準直器尺寸的減小，X 射線的量（通量）也會隨之減少。 這直接影響可重複性並增加了獲得可接受結果所需的測試時間。 多毛細管光學元件為非常小的特徵提供了最有效的解決方案，而 Bowman 提供的光束尺寸低至 7.5 µm FWHM，是業界最小的。