SDD 提供最佳分辨率， 最低噪聲水平（最高信噪比）、長期穩定性和最短測試時間。 他們還直接測量化學鍍鎳沉積物中的 %P。 結合 Bowman 高度可靠的 X 射線管，這對硬件組合代表了我們提供的每個 XRF 系統的堅實核心。

無論您是測量 ENIG、ENEPIG、HASL、 化學鍍鎳、%P、RoHS 或其他 PCB 應用，Bowman 可為您的要求提供完美的解決方案。 憑藉全系列的型號和硬件選項，我們的專家可以幫助確定最適合您的需求。

兩種最流行的 PCB 分析模型 是 P 和 B 系列系統。 P 系列包括一個多准直器組件，以適應各種墊尺寸和各種可編程 XY 平台尺寸和行程範圍。 B 系列是最實惠的選擇，提供與 P 系列相同的測量性能，但沒有可編程平台或多個准直器尺寸。

如果您的特徵尺寸接近 100 µm 或更小， Bowman 提供多毛細管光學系統，該系統結合了非常小的 X 射線束尺寸和高通量水平。 隨著准直器尺寸的減小，X 射線（通量）的數量也隨之減少。 這直接影響了可重複性並增加了獲得可接受結果所需的測試時間。 多毛細管光學器件為非常小的特徵提供了最有效的解決方案，Bowman 提供的光束尺寸低至 7.5 µm FWHM，是業內最小的。