僅使用高解析度固態探測器
與其他市面上的X射線螢光光譜儀不同，Bowman所有X射線螢光光譜儀均採用高解析度固態偵測器。與傳統的比例計數器技術相比，Bowman的固態偵測器具有更高的分辨率，能夠清晰分離重疊元素之間的峰形，而無需使用二級濾光片。由於無需在每次測量時都使用二級濾光片，Bowman的測量時間顯著縮短了一半。 此外，高解析度固態偵測器可提高穩定性，最大限制地減少因溫度和濕度變化而引起的漂移——這意味著客戶可以信賴的高儀器穩定性，並減少重新校準 XRF 所需的時間。
鮑曼高解析度固態探測器的優點包括：
- 每秒處理超過 2 萬個計數，提高了最低檢測極限 (MDL) 和光譜解析度。
- 能夠測量複雜的多層塗層和厚度低至<20nm的超薄塗層。
- 將檢測極限提高到埃級或ppm級。
- 能夠測量磷、矽、鋁等輕元素。
先進的智能工程
Bowman XRF儀器在設計上有許多優於其他品牌XRF儀器的硬體優勢：
- 與同類設備相比，Bowman X射線管和偵測器的近耦合幾何佈局可提供三倍以上的光子計數。這使得Bowman系統能夠在更短的測量時間內達到更低的探測極限和更高的精度。
- 採用業界最小的微光點尺寸，7.5μm FWHM（半峰全寬）多毛細管光學元件，可測量最小的特徵。
- 堅固耐用的微聚焦X射線，具有更高的穩定性和更長的使用壽命。
- 模組化組件設計，方便現場升級和維護，最大限度地減少停機時間。
先進的軟體，直覺的使用者介面
它需要先進的設計......才能進行測試 簡單！ Bowman XRF 塗層測量系統採用領先的軟體，將直覺的視覺控制與省時的快捷方式、靈活的自訂功能以及業內唯一真正的一鍵式報告產生器相結合。
- Bowman 將現代化的以視覺為中心的 UI 與優化的工作流程相結合，最大限度地減少了校準、分析和報告資料所需的點擊次數。
- 我們獨特的自動雷射對焦功能確保每一次測量都在正確的焦距下進行分析，從而獲得準確且可重複的結果——無需操作員幹預。
- 借助自動模式匹配、智慧數據識別和每個測量點位置的可視化疊加，程式設計變得輕鬆便捷。
- 輕鬆自訂報告，一鍵即可列印！
- 或透過與網路資料夾、ERP、SECS/GEM 或 SPC 系統整合自動匯出。
- 功能豐富，且可依使用者進行自訂。支援無限數量的密碼保護使用者級別，並可對每個級別的使用者權限進行精細控制。
自訂選項無窮無盡。
無與倫比的塗層厚度範圍
Bowman XRF儀器能夠精確測量塗佈厚度，
對從 Al 13 到 U 92 的多種元素進行元素分析。
"同業中最佳"服務和支持
Bowman被廣泛認為是XRF技術支持和服務的領導者，在芝加哥地區的總部以及我們廣泛的經驗豐富的分銷商網絡中提供廣泛的服務資源。
「美國製造」
Bowman是全美唯一設計、開發和製造XRF塗層測量系統的領先製造商。 值得注意的是，Bowman是XRF系統的主要出口商，在意大利和德國以及日本、印度、韓國、中國、台灣和菲律賓都擁有完善的客戶群。
「美國製造」